蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)

需要注意的事

三坐標(biāo)測量機(jī)在測量零件時(shí)，是用探針的寶石球與被測零件表面接觸，接觸點(diǎn)與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c(diǎn)的坐標(biāo)相差一個(gè)寶石球的半徑，需要通過校驗(yàn)得到的探針的實(shí)測半徑值，對(duì)測量結(jié)果補(bǔ)償修正。

在選擇三坐標(biāo)測頭的過程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過?；蛘吲渲貌蛔愕膶擂吻闆r。

配置三坐標(biāo)測量機(jī)的測頭時(shí)，實(shí)際會(huì)面臨來自多個(gè)方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測頭還是觸發(fā)測頭”、“三軸聯(lián)動(dòng)還是五軸聯(lián)動(dòng)”、“接觸式測頭還是光學(xué)測頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項(xiàng)因素有時(shí)能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測頭的特點(diǎn)及適用場合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測頭，滿足測量要求。

掃描測頭

當(dāng)沒有掃描測量需求時(shí)，用觸發(fā)式測頭在測量效率上反而要高于掃描測頭。 另外值得一提的是，一些特定功能必須依靠掃描測頭才能實(shí)現(xiàn)，例如“自定心”?！白远ㄐ摹钡膽?yīng)用場合一般是用于尋找孔的中心點(diǎn)、槽的底部等等，這就要求測頭具備搜索功能，直至測頭的模擬信號(hào)達(dá)到一個(gè)符合條件的穩(wěn)定狀態(tài)后才進(jìn)行采點(diǎn)，這個(gè)功能是“一碰即退”的觸發(fā)測頭無法實(shí)現(xiàn)的。

固定式測頭與旋轉(zhuǎn)測頭

對(duì)于配置固定式測頭的三坐標(biāo)測量機(jī)，雙層甚至三層換針架都非常普遍，而測量過程中的換針動(dòng)作也相當(dāng)頻繁。旋轉(zhuǎn)式測頭的應(yīng)運(yùn)而生就是為了克服固定式測頭的這個(gè)弱點(diǎn)，測頭座的俯仰和偏轉(zhuǎn)功能能夠在不換針的情況下大大提高測量的靈活性，但是，旋轉(zhuǎn)式測頭靈活性提高的同時(shí)卻犧牲了部分測針攜帶能力。

三軸聯(lián)動(dòng)與五軸聯(lián)動(dòng)

當(dāng)下個(gè)零件擺放到工作臺(tái)上，但其姿態(tài)方位與前一個(gè)零件不一致時(shí)，之前的測頭角度可能會(huì)不再適用。因此，在做批量測量時(shí)，我們對(duì)于零件的位置、姿態(tài)方位都有一定程度的要求。而對(duì)于五軸系統(tǒng)，這方面的要求會(huì)寬松得多，測頭的無級(jí)分度特性使得測頭能夠根據(jù)零件坐標(biāo)系的找正作出相應(yīng)調(diào)整，避免了出現(xiàn)測頭角度不適用的情形。