手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持光譜儀的特點

◆　特殊構(gòu)造

采用堅韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅固耐用；密封式一體化設(shè)計，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條件下安全使用。

◆　抗病毒能力強(qiáng)

內(nèi)置一體化專用操作系統(tǒng)，無須外接PDA，運算速度快，具有病毒抗疫功能。

◆　無損檢測

與破壞性檢測方法不同，樣品在整個測試過程中無任何損壞。

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手持光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域

考古/古物鑒定（Archaeology）

實時獲得該領(lǐng)域內(nèi)定量的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，對于考古學(xué)和古物保護(hù)者而言是重要的。

隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和革新，鑒定古代藝術(shù)品的年份，從藝術(shù)品中獲取定量數(shù)據(jù)已經(jīng)成為考古學(xué)界和博物館的研究手段之一。不管在勘測、挖掘現(xiàn)場實地測繪、還是在古物物保護(hù)或起源鑒定的工作中，化學(xué)元素數(shù)據(jù)分析已成為常用方法。