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超高速ADC采集板卡——數(shù)字輸出選擇
1.儀表促進(jìn)了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度,設(shè)計(jì)者必須評估轉(zhuǎn)換器的輸出格式,以及基本的轉(zhuǎn)換性能。2.主要的輸出選項(xiàng)是CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令),以及CML(電流模式邏輯)。3.要考慮的問題包括:功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時(shí)鐘的變形,以及對噪聲的抑制能力。ADC的采樣率模擬信號在時(shí)域上是連續(xù)的,因此可以將它轉(zhuǎn)換為時(shí)間上連續(xù)的一系列數(shù)字信號。4.對于布局的考慮也是轉(zhuǎn)換輸出選擇中的一個(gè)方面,尤其當(dāng)采用LVDS技術(shù)時(shí)。
北京和力達(dá)科技有限公司,主營超高速ADC采集板卡,單光子探測器,熒光壽命分析儀等,如有需要,歡迎與我們聯(lián)系。
超高速ADC采集板卡
北京和力達(dá)——專業(yè)超高速ADC采集板卡供應(yīng)商,我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?
科研工作者對信號的獲取與分析的需求從不停歇,而采集卡的形態(tài)、樣式也在推陳出新,新的處理手段——如多核CPU、并行GPU,F(xiàn)PGA處理能力也日新月益,推動(dòng)整個(gè)數(shù)據(jù)采集行業(yè)不斷進(jìn)步。對于獲取物理界中的信號,幾十兆以上的采樣率被視為高速數(shù)據(jù)采集,5G通信、復(fù)雜電磁環(huán)境監(jiān)測、相控陣?yán)走_(dá)、超帶寬通信、高能物理、光電領(lǐng)域?qū)τ跀?shù)據(jù)采集卡的需求也集中在高頻頻段,需要更高的帶寬、更高的采樣精度、更廣的動(dòng)態(tài)范圍。在高速電路的毛刺捕獲、電力設(shè)備高電壓試驗(yàn)以及電力設(shè)備的遙感遙測等場合均需要高速或超高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)。高速數(shù)據(jù)采集卡的關(guān)鍵部件廠商不斷發(fā)布全新的芯片部件,如ADI,TI的全新AD/DA芯片,Xilinx, Altera的基于SOC的先進(jìn)FPGA技術(shù),使高速數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品出現(xiàn)新的組合可能。
高速數(shù)據(jù)采集卡作為進(jìn)行相關(guān)超聲測量的理想工具,在開發(fā)、測試、操作超聲產(chǎn)品中可以發(fā)揮關(guān)鍵作用。高速數(shù)據(jù)采集卡和任意波形發(fā)生器提供寬范圍的帶寬、采樣率和動(dòng)態(tài)范圍,能夠匹配超聲測量的的相關(guān)需求。
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