TRU初級(jí)繞組對(duì)中性點(diǎn)阻值及電感值發(fā)現(xiàn)

通過檢查測(cè)量損壞的TRU初級(jí)繞組對(duì)中性點(diǎn)阻值及電感值發(fā)現(xiàn)（圖1中A、B、C插釘對(duì)E電阻及電感），AE阻值為0.001歐姆，電感8μH；BE阻值為0.025歐姆，電感14.5MH；CE阻值為0.009歐姆，電感2MH。AE、CE阻值及電感值與BE相差巨大，判斷為TRU的初級(jí)繞組AE的繞阻絕緣層燒壞導(dǎo)致繞組匝間短路，所以跳開關(guān)跳出，說明AE長(zhǎng)時(shí)間工作在高負(fù)荷狀態(tài)中（CE其實(shí)也一樣，只不過AE先損壞而已），而BE應(yīng)該負(fù)載不大，跟之前發(fā)現(xiàn)的三相電源B相電壓不穩(wěn)的故障缺陷一致。

可模擬電池變化曲線特性模型

電池模擬器的作用是，模擬真實(shí)電池的輸出狀態(tài)和電池的充放電特性，并可以按用戶的需要，隨時(shí)改變電池SOC，放電深度，開路電壓，內(nèi)阻等條件，快速驗(yàn)證待測(cè)設(shè)備在不同電池條件下的響應(yīng)。當(dāng)前市場(chǎng)上大部分消費(fèi)類電子產(chǎn)品需搭配鋰離子電池供電，尤其智能手機(jī)行業(yè)，電池續(xù)航問題日顯突出，對(duì)手機(jī)電池測(cè)試也越來越嚴(yán)苛，相較真實(shí)電池，使用模擬電池測(cè)試具備以下優(yōu)點(diǎn)：可模擬電池變化曲線特性模型，縮短測(cè)試周期，另外通過既定的模型反復(fù)測(cè)試，可提高測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性。

N8352具備電池內(nèi)阻模擬功能

N8352具備電池內(nèi)阻模擬功能，并支持內(nèi)阻值可編程，可編程范圍為：0-1Ω，可模擬與真實(shí)電池內(nèi)阻特性一致的變化曲線。不僅適用于對(duì)各類便攜式電池進(jìn)行充、放電測(cè)試，還可以模擬電池的充放電特性，協(xié)助進(jìn)行其他各項(xiàng)測(cè)試。一臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)多種用途，極大地精簡(jiǎn)了測(cè)試設(shè)備，并優(yōu)化了測(cè)試流程。電池安全保護(hù)性能包括過充電保護(hù)、過放電保護(hù)，和短路保護(hù)三方面，由于在過保護(hù)瞬間和短路響應(yīng)瞬間時(shí)間非常短，通常都在百微秒級(jí)別，因此，對(duì)于測(cè)試的電源響應(yīng)速度也是有著嚴(yán)格的需求。N8352系列無論在空載還是帶載情況下都能確保電壓變化無過沖過放，防止因電壓過沖過放對(duì)被測(cè)品造成損傷從而影響產(chǎn)品品質(zhì)。符合對(duì)電源要求苛刻的產(chǎn)品測(cè)試要求。