顯微鏡測量模式及比對(duì)模式,可搭配GSM

顯微鏡測量模式：具有測量模式及比對(duì)模式，可搭配GSM-C289A軟件進(jìn)行分析。 1、繪圖——可以在計(jì)算機(jī)顯示器上很方便地觀察金相圖像，并對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等。結(jié)合光學(xué)影像量測系統(tǒng)，對(duì)工件進(jìn)行高度的光學(xué)量測，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數(shù)據(jù)分析，并可以用DFX格式輸出在CAD中進(jìn)行工程圖的設(shè)計(jì)。 2、 測量——可測量平面上的任何幾何圖形之尺寸（角度、長度、直徑、半徑、點(diǎn)到線的距離、圓的偏心、兩圓間距等） 3、 標(biāo)注——可在實(shí)時(shí)影像中的實(shí)際工件上標(biāo)注各種幾何尺寸。 4、 拍照——可拍下實(shí)物照片，包括所標(biāo)注的尺寸。

拋光的目的是去除細(xì)磨后遺留在磨面上的細(xì)微磨痕

拋光 拋光的目的是去除細(xì)磨后遺留在磨面上的細(xì)微磨痕，得到光亮無痕的鏡面。拋光的方法有機(jī)械拋光、電解拋光和化學(xué)拋光三種，其中的是機(jī)械拋光。機(jī)械拋光在拋光機(jī)上進(jìn)行，將拋光織物(粗拋常用帆布，精拋常用毛呢)用水浸濕、鋪平、繃緊并固定在拋光盤上。 啟動(dòng)開關(guān)使拋光盤逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，將適量的拋光液(氧化鋁、氧化鉻或氧化鐵拋光粉加水的懸浮液)滴灑在盤上即可進(jìn)行拋光，拋光時(shí)應(yīng)注意： ?試樣沿盤的徑向往返緩慢移動(dòng)，同時(shí)逆拋光盤轉(zhuǎn)向自轉(zhuǎn)，待拋光快結(jié)束時(shí)作短時(shí)定位輕拋。 ?)在拋光過程中，要經(jīng)常滴加適量的拋光液或清水，以保持拋光盤的濕度，如發(fā)現(xiàn)拋光盤過臟或帶有粗大顆粒時(shí)，必須將其沖刷干凈后再繼續(xù)使用。 ?拋光時(shí)間應(yīng)盡量縮短，不可過長，為滿足這一要求可分粗拋和精拋兩步進(jìn)行。 ④拋有色金屬(如銅、鋁及其合金等)時(shí)，在拋光盤上涂少許肥皂或滴加適量的肥皂水。

金相顯微鏡在有色行業(yè)的應(yīng)用

金相顯微鏡在有色行業(yè)的應(yīng)用 1、通過金相檢驗(yàn)來判斷鋁合金制品的質(zhì)量，探討各種缺陷的形成原因，從而改進(jìn)工藝，提高制品的質(zhì)量。 2、通過金相顯微鏡檢查裂紋的大小，來判斷氧銅中氧含量；晶粒度評(píng)定等。 3、鎂合金加工制品的顯微組織及晶粒度評(píng)定 4、兩相鈦合金高低倍組織的檢驗(yàn) 5、鐵基、銅基制品金相檢驗(yàn) 6、鋼結(jié)硬質(zhì)合金金相檢驗(yàn) 7、硬質(zhì)合金金相檢驗(yàn) 8、材料表面處理后組織鑒別及評(píng)定