頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能

通過(guò)顯微光譜法測(cè)量高i精度絕i對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點(diǎn)1秒高速測(cè)量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機(jī)制

易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析

獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測(cè)量項(xiàng)目：

絕i對(duì)反射率測(cè)量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

　膜厚儀在電氣安全方面按照要求正常使用儀器，就不會(huì)對(duì)人造成任何危險(xiǎn)或損害。膜厚儀包含傳導(dǎo)線電壓的元件，它是按照準(zhǔn)則的安全條款設(shè)計(jì)的。必須遵循儀器安全條款和準(zhǔn)則有關(guān)儀器操作的規(guī)定！　　電源連接為避免損壞儀器,供電電壓必須與膜厚儀銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三相插頭連到一個(gè)已接地的插座上。

如果膜厚測(cè)試儀已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)；根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由膜厚測(cè)試儀顯示的測(cè)量值都是五次“看不見”的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由探頭和儀器完成的。

膜厚測(cè)試儀波譜校準(zhǔn) 　　不關(guān)機(jī)狀態(tài)下每日必做一次或每次關(guān)機(jī)3小時(shí)以上再次重開機(jī)必做，目的讓儀器進(jìn)行自我補(bǔ)償調(diào)整。首先點(diǎn)擊任務(wù)欄中的“波譜校準(zhǔn)”，然后將波譜校準(zhǔn)片放入儀器，將Cu-Ag合金部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測(cè)量（點(diǎn)擊Go鍵）。待膜厚測(cè)試儀器自動(dòng)完成每一步，紅色STOP鍵會(huì)轉(zhuǎn)變成綠色GO鍵后，將純Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測(cè)量（點(diǎn)擊Go鍵），完成后出現(xiàn)“波譜校準(zhǔn)成功”字樣的對(duì)話框時(shí)，點(diǎn)擊“確定”即可。