耐電流參數(shù)測試儀

HCPT耐電流參數(shù)測試儀可以用于尋找PCB孔鏈導(dǎo)通可靠性測試樣品的HCT耐電流測試合適的電流參數(shù)。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下，達(dá)到HCT測試要求。儀器采用高l精度的電源模塊和溫度以及電阻采集模塊，對(duì)PCB孔鏈測試樣品,自動(dòng)嘗試不同的電流,循環(huán)進(jìn)行升溫,保溫,冷卻的過程,并實(shí)時(shí)監(jiān)測孔鏈的溫度，電流，以及電阻變化。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下，達(dá)到HCT測試要求。

HCPT耐電流參數(shù)測試儀也可以用于PCB孔鏈的HCT耐電流測試。

耐電流參數(shù)測試儀主要特點(diǎn)如下

●測試過程數(shù)據(jù)表格顯示

樣品測試完成后，樣品的測試條件以及測試結(jié)果顯示在測試表格中。

測試結(jié)果是否失效統(tǒng)計(jì)顯示。

表格數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為MS Excel格式文件。

保存的數(shù)據(jù)也可以重新調(diào)入表格顯示。

●測試樣品開路檢測和探針接觸不良檢測

測試中，如果發(fā)生樣品失效或者開路，儀器可以自動(dòng)檢測并判斷，并對(duì)用戶進(jìn)行提示。

測試中，如果探針接觸不良，儀器可以自動(dòng)檢測并判斷，并對(duì)用戶進(jìn)行提示。

●超溫保護(hù)

儀器可以設(shè)定測試時(shí)測試樣品超過一定溫度時(shí)斷開測試電流，以對(duì)測試樣品進(jìn)行保護(hù)，十分方便用戶對(duì)缺陷測試樣品進(jìn)行失效分析，從而找到失效的根本原因。

過去雷射盲孔的檢測，是運(yùn)用肉眼或3D測量儀器進(jìn)行逐一檢測，這種方法非常消耗人力，辛苦且只能檢查到一小部分的孔，威太的雷射盲孔檢測儀可全l面檢測HDI及ABF板上的每一個(gè)孔，且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒，不但可以測出不良盲孔，更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告，做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。儀器避免陽光正面直射,不要在高溫、潮濕、多塵的環(huán)境中使用或存放。

針對(duì)雷射鉆孔的需求，提供具成本與效益的檢查機(jī)量測解決方案。

注意事項(xiàng)

1.操作者必須戴絕緣橡膠手套,腳下墊橡膠墊,以防高壓造成生命危險(xiǎn).2.在連接被測體或拆卸時(shí),必須保證高壓輸出“0” 及在“復(fù)位”狀態(tài).3.測試時(shí)儀器接地端與被測體要可靠相接,嚴(yán)禁開路.4.切勿將輸出地線與交流電源線短路,以免外殼帶電,造成危險(xiǎn).5.盡可能避免高壓輸出與地短路,以免發(fā)生意外.6.測試燈、超漏燈,一旦損壞,必須立即更換,以免造成誤判.