影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

    影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因為一點(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個點(diǎn)。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

(2)強(qiáng)磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實(shí)驗，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

   (3)人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。

江蘇一六儀器有限公司   X射線熒光光譜測厚儀

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性能優(yōu)勢：

  下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002m㎡的樣品，可測試各微小的部件。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

如何安裝X射線測厚儀

2) C型架按運(yùn)行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。

   3) C型架落入導(dǎo)軌后，就進(jìn)行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應(yīng)順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場施工條件分頭進(jìn)行吊裝。

   5) 電纜敷設(shè)，除同軸電纜外還包括控制系統(tǒng)電纜和測量信號系統(tǒng)電纜。