內(nèi)窺鏡的特性

普通的硬管內(nèi)窺鏡都不耐高溫高壓，主要是由于封裝膠在高溫下會(huì)變質(zhì)、變形，窺鏡就會(huì)開膠進(jìn)水，所以不可用煮沸和高壓蒸汽等高溫高壓的方法消毒。大多數(shù)硬管內(nèi)窺鏡的損壞都是由于不注意保養(yǎng)、磕碰、落地等原因造成的。也有個(gè)別生產(chǎn)廠的封裝膠、封裝技術(shù)、封裝結(jié)構(gòu)有問題，造成窺鏡進(jìn)水、開膠的現(xiàn)象，這些都是可以修復(fù)的 。

內(nèi)窺鏡無損檢測(cè)

無損檢測(cè)是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小，位置，性質(zhì)和數(shù)量等信息。它與破壞性檢測(cè)相比，

無損檢測(cè)有以下特點(diǎn)：

1.是具有非破壞性，因?yàn)樗谧鰴z測(cè)時(shí)不會(huì)損害被檢測(cè)對(duì)象的使用性能；

2.具有周密性，由于檢測(cè)是非破壞性，因此必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的檢測(cè)，這是破壞性檢測(cè)辦不到的；

3.具有全程性，破壞性檢測(cè)一般只適用于對(duì)原材料進(jìn)行檢測(cè)，如機(jī)械工程中普遍采用的拉伸、壓縮、彎曲等，破壞性檢驗(yàn)都是針對(duì)制造用原材料進(jìn)行的，對(duì)于產(chǎn)成品和在用品，除非不準(zhǔn)備讓其繼續(xù)服役，否則是不能進(jìn)行破壞性檢測(cè)的，而無損檢測(cè)因不損壞被檢測(cè)對(duì)象的使用性能。所以，它不僅可對(duì)制造用原材料，各中間工藝環(huán)節(jié)、直至產(chǎn)成品進(jìn)行全程檢測(cè)，也可對(duì)服役中的設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

單物鏡三維立體相位掃描測(cè)量法

近幾年工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的單物鏡三維立體相位掃描測(cè)量法（以下簡(jiǎn)稱3D相位掃描測(cè)量)是一種新型的法光學(xué)測(cè)量技術(shù)，其測(cè)量鏡頭可將線形光柵交叉投射到表面，并用具有高質(zhì)量光學(xué)器件的攝像機(jī)這個(gè)線形模式，再用專有算法處理圖像，得到整個(gè)表面的三維點(diǎn)云圖;將三維空間點(diǎn)坐標(biāo)與測(cè)量結(jié)合使用，獲得更多有關(guān)缺陷或者被測(cè)對(duì)象的準(zhǔn)確信息，這是真正意義上的三維立體測(cè)量技術(shù)，并且數(shù)據(jù)重復(fù)性好，可靠性高。

其測(cè)量鏡頭同樣不需要垂直于被測(cè)量缺陷所在的平面，尤為特別的是它將不同焦距段（極近、近焦和中焦）的觀察鏡頭和測(cè)量鏡頭合為一體，采用大視野單視窗視圖，檢測(cè)過程中發(fā)現(xiàn)缺陷即可拍照測(cè)量，不僅適合于較大尺寸缺陷的測(cè)量，而且較之雙物鏡立體測(cè)量，省去了從觀察鏡頭更換為測(cè)量鏡頭的步驟，有效的提高檢測(cè)效率，同時(shí)也降低了工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭反復(fù)穿插帶來卡滯的風(fēng)險(xiǎn)。

內(nèi)窺鏡多種測(cè)量的比較分析

對(duì)于點(diǎn)到線、深度（點(diǎn)到面）的測(cè)量，單物鏡陰影測(cè)量法和雙物鏡測(cè)量法雖然也可以實(shí)現(xiàn)，但前者需要探頭上的測(cè)量鏡頭與被測(cè)物垂直而不便于操作，后者因?yàn)槠涑上窦皽y(cè)量原理反饋到屏幕上的是二維平面信息，操作者也只能憑借經(jīng)驗(yàn)在二維畫面上人為操作放置測(cè)量點(diǎn)，無法進(jìn)一步驗(yàn)證測(cè)量點(diǎn)在三維空間上選取的位置準(zhǔn)確與否。尤其是對(duì)葉片缺口和葉尖與機(jī)匣間隙的測(cè)量，進(jìn)行這種測(cè)量時(shí)，很容易把測(cè)量點(diǎn)放在被測(cè)葉片以外的區(qū)域，如另外的葉片上或機(jī)匣上，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)嚴(yán)重偏差。而使用三維相位掃描測(cè)量法時(shí)，可生成三維點(diǎn)云圖，通過旋轉(zhuǎn)點(diǎn)云圖像，從不同角度檢查所選測(cè)量點(diǎn)的位置準(zhǔn)確性，一旦發(fā)現(xiàn)測(cè)量點(diǎn)位置漂移，可及時(shí)糾正。真正實(shí)現(xiàn)了測(cè)量后操作者仍可自行檢查測(cè)量點(diǎn)定位是否正確，極大地降低測(cè)量時(shí)出現(xiàn)人為操作誤差的概率。