一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

    zui da功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

 一、操作注意事項(xiàng)

  1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，會(huì)引起測(cè)量值與實(shí)際值偏差較大；

  2.  如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差 范圍內(nèi)；

  3. 儀器的任何一個(gè)測(cè)量值都是五次看不見的測(cè)量平均值；

  4.  為使測(cè)量更加準(zhǔn)確，可在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量，并計(jì)算其平均值作為 終的測(cè)量結(jié)果；

  5.  顯示測(cè)量結(jié)果后，一定要提起測(cè)頭至距離工件10mm以上，才可以 進(jìn)行下次測(cè)量。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。測(cè)厚儀測(cè)厚儀（thicknessgauge）是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

     影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

   (1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。

江蘇一六儀器有限公司   X射線熒光光譜測(cè)厚儀

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性能優(yōu)勢(shì)：

  下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

  無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002m㎡的樣品，可測(cè)試各微小的部件。