低本底的探測(cè)原理

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探測(cè)原理：探測(cè)器頂端的閃爍體是由α閃爍物質(zhì)和β閃爍物質(zhì)壓制在的有機(jī)玻璃板上。由于α粒子和β射線進(jìn)入閃爍物質(zhì)時(shí)后，將全部能量損失在閃爍物質(zhì)上，引起閃爍發(fā)光，閃爍光子被光電倍增管接收并轉(zhuǎn)換產(chǎn)生電信號(hào)。電信號(hào)進(jìn)入電子線路，轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)，被記錄。每一個(gè)α粒子撞擊閃爍體后產(chǎn)生的光信號(hào)進(jìn)入電子線路整合后在顯示器上被記錄成一個(gè)計(jì)數(shù)。所以低本底αβ測(cè)量?jī)x也被通俗叫做低本底αβ計(jì)數(shù)器。計(jì)數(shù)率與樣品中核素活度（發(fā)射的αβ粒子數(shù)量）成正比。選擇評(píng)價(jià)高的產(chǎn)品每一樣商品的問世都會(huì)擁有一定范圍和數(shù)量的消費(fèi)者，測(cè)量?jī)x也不會(huì)例外，而這些消費(fèi)者在使用之后都會(huì)對(duì)所購(gòu)買的產(chǎn)品提出自己的使用評(píng)價(jià)。

單路低本底α、β測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介

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技術(shù)性能

β效率本底：儀器對(duì)于90Sr-90Y β（活性區(qū)Φ20mm）源的2π探測(cè)效率比≥50%時(shí)，本底≤0.15cm-2min-1；

α效率本底：儀器對(duì)于239Puα（活性區(qū)Φ30mm）源的2π效率比≥80%時(shí)，本底≤0.005 cm-2min-1；

α/β交叉性能：α進(jìn)入β道<3%（對(duì)239Pu）；β進(jìn)入α道<0.5%（對(duì)于90Sr-90Y）；

α/β交叉性能：β進(jìn)入α道<0.5%（對(duì)于90Sr-90Y）；

效率穩(wěn)定性：儀器連續(xù)通電8小時(shí)以上，各路探測(cè)器效率變化小于±5%；

本底穩(wěn)定性：在1000min的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，本底計(jì)數(shù)變化在（Nb±3σ）的范圍內(nèi)，其中Nb 為本底計(jì)數(shù)的平均值，σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差；

絕緣電阻：≥2兆歐姆；

耐壓絕緣度：＞1500V；

使用環(huán)境

電源電壓：交流220V±10%，50HZ，功耗≤20W。

環(huán)境溫度：5～40℃

相對(duì)濕度：＜90%。

尺寸重量：320mm×245mm×630mm，總重量約200kg。