保證測(cè)厚儀質(zhì)量的方法：

要保證設(shè)備的質(zhì)量，不僅要保證設(shè)備的質(zhì)量，而且要注意使用時(shí)的操作標(biāo)準(zhǔn)。專業(yè)用戶必須保證操作的準(zhǔn)確性。在操作過程中，要注意儀器的及時(shí)保養(yǎng)。

分光光譜儀種類量測(cè)波長范圍MCPD-9800：高動(dòng)態(tài)范圍型360~1100 nmMCPD-3700：紫外/可視/近紅外光型220~1000 nmMCPD-7700：高感度型220~1100 nm

平面顯示器模組量測(cè)平面顯示器(FPD)模組、液晶顯示器(LCD)模組、電漿顯示器(PDP)模組、CRT顯示器、OLED面板

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

為什么厚度計(jì)有時(shí)不能自動(dòng)識(shí)別基板？

薄膜厚度測(cè)試儀是一種既有鐵基又有非鐵基的綜合儀器。它可以通過中文菜單操作模式自動(dòng)識(shí)別基材，但菜單i選擇中有“自動(dòng)”和“磁性”“渦流”的多種選擇。只有選擇“自動(dòng)”模式，才能自動(dòng)識(shí)別基礎(chǔ)材料，如果你只測(cè)量它。鐵基材料可以選擇“磁性”選項(xiàng)。

影響膜厚測(cè)量儀的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個(gè)儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測(cè)量彎曲試樣的表面是不可靠的。