假設(shè)金屬探測器中的采樣電路用于檢測反射脈沖的持續(xù)時間

假設(shè)金屬探測器下面有一個金屬物體，脈沖將在物體內(nèi)部形成一個反向磁場。當脈沖產(chǎn)生的磁場衰減并構(gòu)成反射脈沖時，策略對象產(chǎn)生的磁場可以延長反射脈沖從衰減到消失的時間。這個過程的原理有點類似于回聲現(xiàn)象。在金屬探測器中，由策略對象產(chǎn)生的磁場增強了反射脈沖的“回聲”，使其持續(xù)時間比沒有“回聲”時稍長。金屬檢測器中的采樣電路用于檢測反射脈沖的持續(xù)時間。南通金屬檢測儀器將測量的持續(xù)時間與預(yù)期的持續(xù)時間進行比較，電路可以判斷是否有另一個磁場延遲反射脈沖的衰減。假設(shè)反射脈沖的衰減時間比正常情況下長幾微秒，這可能是由于金屬物體的存在干擾了反射脈沖。

采樣電路將它監(jiān)測到的微小信號發(fā)送給一個叫做積分器的設(shè)備

采樣電路將它監(jiān)測到的微小信號發(fā)送給一個叫做積分器的設(shè)備。積分器從采樣電路讀取信號，將其擴展并轉(zhuǎn)換成直流(DC)信號。這個DC電壓被連接到一個音頻電路，在那里它被轉(zhuǎn)換成運動，并且金屬探測器使用這個運動作為指示器信號來發(fā)現(xiàn)策略對象。基于PI技術(shù)的探險者不擅長識別金屬品種。然而，在許多情況下，甚低頻金屬探測器會遇到一些困難，然后PI系統(tǒng)可以使用。每個線圈都連接到一個振動器上，該振動器每秒產(chǎn)生數(shù)千個電流脈沖。兩個線圈的脈沖頻率之間有輕微的偏移。當脈沖在每個線圈中傳輸時，線圈會發(fā)出無線電頻率波。

金屬探測器靈敏度主要由以下幾個因素決定

金屬探測器靈敏度主要由以下幾個因素決定：開口尺寸、工作頻率、產(chǎn)品效應(yīng)和環(huán)境干擾。所以我們在進行檢測的時候，一定要特別注意相關(guān)要素，盡可能的降低誤差的出現(xiàn)，接下來就具體了解下。一、開口尺寸越小，探測頭的靈敏度就越高。二、金屬探測器工作頻率越高，靈敏度>越高。三、產(chǎn)品本身也會在檢測機線圈里面產(chǎn)生一個相應(yīng)的信號，這被稱為產(chǎn)品效應(yīng)。食品的成分、溫度、水分含量，對金屬探測器的檢測過程都有影響，這是因為導(dǎo)電產(chǎn)品會對線圈的電生很強的影響。

導(dǎo)電效應(yīng)是導(dǎo)電材料和有些食品本質(zhì)上既導(dǎo)電的

導(dǎo)電效應(yīng)是導(dǎo)電材料和有些食品本質(zhì)上既導(dǎo)電的，鹽和水組合在一起，能形成導(dǎo)電效應(yīng)。干性（非導(dǎo)電）產(chǎn)品，如糖果、谷類、餅干、粉料等，由于自身不具導(dǎo)電性，可使用高頻率進行檢測，以達到檢測細小金屬異物的目的。濕性（易導(dǎo)電）產(chǎn)品，如奶酪、冷鮮肉、果醬面包、腌制品等，情況則相反。由于產(chǎn)品本身會導(dǎo)電，通過金屬檢測區(qū)域的時候會產(chǎn)生“產(chǎn)品效應(yīng)”，這種效應(yīng)會降低檢測機的檢測靈敏度，為了探測到細小的金屬異物染污物，我們必須抑制這種效應(yīng)，可以使用低頻檢測來減少或消除干擾信號。