等離子發(fā)生器光源：一代等離子發(fā)生器是至今堅(jiān)固的激發(fā)光源。超穩(wěn)定的能量釋放在氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字信號(hào)發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出，確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。 在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù)，提高了樣品輸出量和過程控制效率。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀英文名為OES，20世紀(jì)80年代隨著計(jì)算機(jī)和軟件技術(shù)而飛速發(fā)展，主要通過測(cè)量樣品被激發(fā)時(shí)發(fā)出代表各元素的特征光譜光（發(fā)射光譜）的強(qiáng)度而對(duì)樣品進(jìn)行定量分析的儀器，廣泛應(yīng)用于鑄造，鋼鐵，冶煉以及工、航天航空等諸多領(lǐng)域。

直讀光譜儀按樣品的激發(fā)方式儀器可以分為電火花、電弧和輝光發(fā)電三種類型，應(yīng)用較為廣泛的電光火花源的儀器，按檢測(cè)器的種類，可以分為光電倍增管（PMT）和固體檢測(cè)器；根據(jù)使用波長(zhǎng)的范圍不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀；根據(jù)儀器結(jié)構(gòu)的不同，有可分為同時(shí)型多道直讀光譜儀和掃描型單道直讀光譜儀；按儀器的大小可以分為固定式和便攜式等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制