光學(xué)影像測量儀檢測是一種常見測量技術(shù)，通過提供了量化的圖像測量方式，獲得測量數(shù)據(jù)，從而對零部件公差尺寸進行把控，是機械、電子制造業(yè)，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺挪動時存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; （5）精l確測量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標準的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。

2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢？

2.5次元測量儀，是指在二次元的基礎(chǔ)上，以光學(xué)影像測量可測高度及深度，或者在鏡頭上加個測針，用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進行接觸式測量可測深度，達到3維測量的效果，但此3維測量僅是簡易的3D測量，未能真正地實現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量，因此被稱為2.5次元。

三維形貌測量儀對于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國際標準的NanoFocus測量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開發(fā)時間的同時降低成本。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的電子技術(shù)工藝的發(fā)展，電子產(chǎn)品都往小型化，輕薄化發(fā)展。iWatch的一經(jīng)推出，穿戴電子產(chǎn)品成為了一個新的電子設(shè)備應(yīng)用潮流。隨著電子產(chǎn)品的小型化，器件體積越做越小，空間就緊湊起來，這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。

這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術(shù)，能夠高l精度還原產(chǎn)品的3D結(jié)構(gòu)，對肉眼不可見的結(jié)構(gòu)缺陷都能準確檢測。因為具有較快的掃描速度，微米級別的精度和超l強的穩(wěn)定性，一經(jīng)推出立馬成為精密生產(chǎn)商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3D玻璃，半導(dǎo)體缺陷檢測和多層光學(xué)薄膜厚度檢測，就是這款產(chǎn)品的主要應(yīng)用領(lǐng)域。