彈簧蓄能密封圈（泛塞封）是由聚合材料密封殼和耐腐蝕的不銹鋼金屬彈簧組成。密封圈安裝在溝槽內，彈簧受壓，形成向外的張力，促使密封唇緊貼密封溝槽，由于彈簧給密封唇提供彈力，能彌補密封殼磨損和配合零件的偏心，由此形成從真空到低壓范圍內的密封。另外系統(tǒng)壓力會輔助彈簧蓄能，壓力越大，密封唇與溝槽貼合的越充分，由此形成高壓密封。

金屬彈簧有多種形式可供選擇，有O型彈簧，V型彈簧，U型彈簧，滿足不同運動形式的密封要求。在有些場合可由不同材質的O形圈替代金屬彈簧做為彈性體使用。

彈簧蓄能密封圈的應用領域：

——泵、閥、壓縮機

——制藥設備、食品設備、儀器

——石油、細化工工業(yè)

——回轉接頭制造業(yè)

——半導體制造設備

——液相色譜儀旋轉泛塞封供應

——航天、航空工業(yè)

泛塞封動靜皆宜，除了上述的高溫腐蝕環(huán)境的密封應用外，因其具有密封唇摩擦系數(shù)低、密封接觸壓力穩(wěn)定、耐壓力高、容許較大的徑向偏擺（radial　run-out）及溝槽尺寸誤差，故非常適用于空油壓缸的密封件，替換U形或V形迫緊而獲得優(yōu)異的密封性能與使用壽命。

大幅提高密封能力與使用壽命　

密封件凹槽內可充填任何抗污染材料（如矽膠）－但不適用于輻射環(huán)境　

因密封材料為鐵氟龍，非常潔凈，不會污染制程　 摩擦系數(shù)極低，即使在極低速應用亦非常平順，毫無「滯滑效應」　

起動摩擦阻力小，即使停機時間長或間歇性運轉，均能保持低起動力性能

旋轉泛塞封供應

結構精巧，可安裝于標準的O形環(huán)溝槽　

大幅提高密封能力與使用壽命　

密封件凹槽內可充填任何抗污染材料（如矽膠）－但不適用于輻射環(huán)境　

因密封材料為鐵氟龍，非常潔凈，不會污染制程　 摩擦系數(shù)極低，即使在極低速應用亦非常平順，毫無「滯滑效應」　

起動摩擦阻力小，即使停機時間長或間歇性運轉，均能保持低起動力性能

旋轉泛塞封供應泄漏原因分析及判斷

1 ．旋轉泛塞封供應安裝靜試時泄漏。機械密封安裝調試好后，一般要進行靜試，觀察泄漏量。如泄漏量較小，多為動環(huán)或靜環(huán)密封圈存在問題；泄漏量較大時，則表明動、靜環(huán)摩擦副間存在問題。在初步觀察泄漏量、判斷泄漏部位的基礎上，再手動盤車觀察，若泄漏量無明顯變化則靜、動環(huán)密封圈有問題；如盤車時泄漏量有明顯變化則可斷定是動、靜環(huán)摩擦副存在問題；如泄漏介質沿軸向噴射，則動環(huán)密封圈存在問題居多，泄漏介質向四周噴射或從水冷卻孔中漏出，則多為靜環(huán)密封圈失效。此外，泄漏通道也可同時存在，但一般有主次區(qū)別，只要觀察細致，熟悉結構，一定能正確判斷。

　　2 ．旋轉泛塞封供應試運轉時出現(xiàn)的泄漏。泵用機械密封經(jīng)過靜試后，運轉時高速旋轉產(chǎn)生的離心力，會抑制介質的泄漏。因此，試運轉時機械密封泄漏在排除軸間及端蓋密封失效后，基本上都是由于動、靜環(huán)摩擦副受破壞所致。引起摩擦副密封失效的因素主要有：（ l ）操作中，因抽空、氣蝕、憋壓等異?，F(xiàn)象，引起較大的軸向力，使動、靜環(huán)接觸面分離；（對安裝機械密封時壓縮量過大，導致摩擦副端面嚴重磨損、擦傷；（ 3 ）旋轉泛塞封供應動環(huán)密封圈過緊，彈簧無法調整動環(huán)的軸向浮動量；（ 4 ）靜環(huán)密封圈過松，當動環(huán)軸向浮動時，靜環(huán)脫離靜環(huán)座；（ 5 ）工作介質中有顆粒狀物質，運轉中進人摩擦副，探傷動、靜環(huán)密封端面；（ 6 ）設計選型有誤，密封端面比壓偏低或密封材質冷縮性較大等。上述現(xiàn)象在試運轉中經(jīng)常出現(xiàn)，有時可以通過適當調整靜環(huán)座等予以消除，但多數(shù)需要重新拆裝，更換密封。

怎么測量O型圈d的尺寸

O型圈尺寸測量選用工具根據(jù)客戶要求選用，測量方式大致分為兩種：一：暗光測量，二：亮光測量。

一、暗光測量，簡單說就是測量O型圈的影子。這種測量工具我們一般選用投影儀。一般O型圈都是測量其外徑和內徑的尺寸，測量O型圈尺寸時，都是以O型圈的上、下、左、右四點量出直徑。以下方法在測量O型圈外徑和內徑都適用：

1、在投影儀上，根據(jù)產(chǎn)品的大小調試鏡頭的倍數(shù)大小，將鏡頭調試清晰。

2、將坐標擺放在o型圈的一個邊沿，和投影儀的坐標線互相靠攏；

3、在投影儀上找到標注有圓的圖標，按一下這個圖標，再按確認鍵，這樣就找到一個點了；4、把坐標移到O型圈的第二個點上，同樣也要把坐標線和O型圈的邊沿靠攏，再按確認鍵；以此類推，這樣在取完O型圈的四點后，一個直徑就測量出來了。

  二、亮光測量，也就是測量O型圈本身。這種測量工具我們一般選用光學影像測量儀。方法和投影儀基本相同。