EMC測試介紹

EMC測試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個測試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時會產(chǎn)生放電電流，這個放電電流會產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場。放電時產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時的性能。

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常見EMC測試項(xiàng)目-RE

RE主要是考察設(shè)備在正常工作時自身對外界的輻射的干擾強(qiáng)度，測試頻段根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)要求不同，在CISPR 11中，主要測試頻段為30～1000MHz，值得注意的是設(shè)備進(jìn)行RE測試時標(biāo)準(zhǔn)要求盡可能滿配置、滿負(fù)荷的運(yùn)行。RE問題是EMC中的難點(diǎn)。主要因?yàn)镽E設(shè)計產(chǎn)品EMC設(shè)計的各個環(huán)節(jié)：屏蔽、濾波、接地；

在RE測試中，天線的高度、天線的極化方向以及轉(zhuǎn)臺的角度都需要不斷改變，以求檢測到設(shè)備輻射的大點(diǎn)。

RE測試可以在開闊場和半電波暗室內(nèi)進(jìn)行；

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電磁兼容的研究發(fā)展

電磁兼容的研究是隨著電子技術(shù)逐步向高頻、高速、高可靠性、高靈敏度、高密度（小型化、大規(guī)模集成化），大功率、小信號運(yùn)用、復(fù)雜化等方面的需要而逐步發(fā)展的。特別是在計算機(jī)、通信設(shè)備和潛艇中大量采用現(xiàn)代電子技術(shù)后，使電磁兼容問題更加突出。

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