大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

在相位差膜等光學(xué)膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機(jī)械強(qiáng)度、大相位差、相位差的波長(zhǎng)依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現(xiàn)透明樹脂材料光學(xué)各向異性的方法，可以進(jìn)行膜的拉伸配向。已知通過(guò)該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負(fù)雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計(jì)測(cè)模組和透過(guò)偏光光學(xué)系相結(jié)合進(jìn)行測(cè)定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測(cè)定，進(jìn)而演算其吸收軸，光軸，相對(duì)角、RE的裝置。

 偏光計(jì)測(cè)模組是用CCD camera的1shot來(lái)獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern，因與以往的偏光計(jì)測(cè)裝置相比，其無(wú)偏光子回旋機(jī)構(gòu)，故其可維持其的測(cè)定及穩(wěn)定的性能。用基準(zhǔn)Sample實(shí)施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準(zhǔn)Sample自身的Retardation測(cè)量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時(shí)進(jìn)行。