大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用紫外光譜儀時需要注意什么

使用環(huán)境溫度不能太高

光譜儀在使用時如果環(huán)境溫度太高，也會影響光譜儀的測量精度，會出現(xiàn)位移偏差，所以一般情況下，光譜儀都是默認(rèn)在常溫環(huán)境下使用。實驗室還要時刻保持整潔干燥，以確保所獲得的實驗效果能夠達(dá)到i佳。

各種因素對吸收譜帶的影響表現(xiàn)為譜帶位移、譜帶強度的變化、譜帶精細(xì)結(jié)構(gòu)的出現(xiàn)或消失等。譜帶位移包括藍(lán)移（或紫移，hypsochromic shift or blue shift))和紅移(bathochromic shift or red shift)。藍(lán)移（或紫移）指吸收峰向短波長移動，紅移指吸收峰向長波長移動。吸收峰強度變化包括增色效應(yīng)(hyperchromic effect)和減色效應(yīng)(hypochromic effect)。前者指吸收強度增加，后者指吸收強度減小。利用物質(zhì)的分子或離子對紫外和可見光的吸收所產(chǎn)生的紫外可見光譜及吸收程度可以對物質(zhì)的組成、含量和結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析、測定、推斷。各種因素對吸收譜帶的影響結(jié)果總結(jié)于右圖中。

MK350[1]  LED光譜儀用于檢測LED光源的CCT(相關(guān)色溫)、CRI(顯色指數(shù))、LUX(照度)、λP(主峰波長)，能夠顯示相對功率光譜分布圖、CIE 1931 x,y 色品坐標(biāo)圖、CIE1976 u',v'坐標(biāo)圖。應(yīng)用于LED相關(guān)產(chǎn)業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)、品保、檢測及銷售。⒈1鉑鈷比色法參照采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO7887—1985《水質(zhì)顏色的檢驗和測定》。

 光學(xué)測量是光電技術(shù)與機(jī)械測量結(jié)合的高科技。借用計算機(jī)技術(shù)，可以實現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的測量。方便記錄，存儲，打印，查詢等等功能。據(jù)介紹，光學(xué)測量主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測，主要檢測產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格，主要應(yīng)用的行業(yè)領(lǐng)域有：金屬制品加工業(yè)、模具、塑膠、五金、齒輪、手機(jī)等行業(yè)的檢測，以及工業(yè)界的產(chǎn)品開發(fā)、模具設(shè)計、手扳制作、原版雕刻、RP快速成型、電路檢測等領(lǐng)域。顯然這種儀器對于需要經(jīng)常根據(jù)光譜圖定性分析的用戶而言是很不方便的,但價格相對于光譜儀要便宜得多。 主要儀器表現(xiàn)為：二次元、工具顯微鏡、光學(xué)影像測量儀、光學(xué)影像投影儀、三次元、三坐標(biāo)測量機(jī)、三維激光抄數(shù)機(jī)等 除此之外非接觸檢測技術(shù)的應(yīng)用在機(jī)械制造行業(yè)中，為了使機(jī)加工的產(chǎn)品能達(dá)到設(shè)計精度和質(zhì)量要求。