FE3000反射式膜厚量測儀：原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進(jìn)行測量。

應(yīng)用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

?矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體雷射、強誘電、介電常數(shù)材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學(xué)材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測儀特點：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進(jìn)行確認(rèn)。請將激發(fā)波長設(shè)置到可視光范圍內(nèi)確認(rèn)。