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晶體硅逆變器回收多重優(yōu)惠「多圖」

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發(fā)布時(shí)間:2020-07-29 23:34  
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視頻作者:蘇州振鑫焱光伏科技有限公司






電池片的檢驗(yàn)

振鑫焱光伏科技有限公司常年采購(gòu):高價(jià)回收硅片,電池片,初級(jí)多晶硅,銀漿布,單晶硅,多晶硅,太陽(yáng)能電池,光伏組件,太陽(yáng)能電池板,客戶撤退,降級(jí),庫(kù)存,El,不良測(cè)試,二手,舊,工程,拆卸,路燈,拆解電站,拆卸,膠合板,層壓板,無邊界晶體硅,多晶硅,單晶硅,實(shí)驗(yàn)板,債務(wù)償還,返工,光伏模塊回收等。

背電場(chǎng):

A 級(jí):

背電場(chǎng)完整,厚薄均勻,允許有缺失,缺失面積不超過背電場(chǎng)總面積的 5% ,變色面積不超過背電場(chǎng)面積的 15% 。

新的標(biāo)準(zhǔn):背電場(chǎng)完整,厚薄均勻,不允許有缺失

B 級(jí):

允許有缺失,缺失面積不超過背電場(chǎng)總面積的 10% ,變色面積不超過背電場(chǎng)面積的 30% 。

新的標(biāo)準(zhǔn):允許有缺失,缺失面積不超過背電場(chǎng)總面積的 5% ,變色面積不超過背電場(chǎng)面積的 15% 。

C 級(jí):

允許有缺失,缺失面積不超過背電場(chǎng)總面積的 10% ,變色面積不超過背電場(chǎng)面積的 50% 。

新的標(biāo)準(zhǔn):缺失面積不超過背電場(chǎng)總面積的 5% ,變色面積不超過背電場(chǎng)面積的 50% 。

粗點(diǎn):

粗點(diǎn)寬度≤ 0.18mm ,個(gè)數(shù)小于 2 個(gè)

新的標(biāo)準(zhǔn):不允許有粗點(diǎn)

粗點(diǎn)寬度≤ 0.25mm ,個(gè)數(shù)小于 5 個(gè)

新的標(biāo)準(zhǔn):允許有粗點(diǎn),粗點(diǎn)寬度≤ 0.18mm ,個(gè)數(shù)小于 2 個(gè)

粗點(diǎn)寬度≤ 0.3mm ,個(gè)數(shù)小于 8 個(gè)

新的標(biāo)準(zhǔn):當(dāng)主柵線或副柵線有明顯粗細(xì)不均時(shí),應(yīng)用刻度顯微鏡進(jìn)行查檢。




振鑫焱光伏科技有限責(zé)任公司長(zhǎng)期購(gòu)置:天價(jià)回收硅片,電池片,初中級(jí)多晶硅,銀漿布,單晶硅,多晶硅,太陽(yáng)電池,太陽(yáng)能組件,太陽(yáng)能光伏板,顧客撤離,退級(jí),庫(kù)存量,El,欠佳檢測(cè),2手,舊,工程項(xiàng)目,拆裝,道路路燈,拆卸發(fā)電廠,拆裝,人造板,層壓板,無界限結(jié)晶硅,多晶硅,單晶硅,試驗(yàn)板,負(fù)債還款,返修,太陽(yáng)能發(fā)電控制模塊收購(gòu)等。

一14、漏漿

A級(jí): 漏漿單獨(dú)總面積低于0.5*0.5mm,總數(shù)低于3個(gè) 

B級(jí):跑模單獨(dú)總面積低于1。0*1.0mm總數(shù)不分

C級(jí):跑模單獨(dú)總面積低于1。0*2。0mm總數(shù)不分 

缺點(diǎn)/報(bào)廢片: 

超過C級(jí)片的規(guī)定為缺點(diǎn)片,超過缺點(diǎn)片規(guī)定的為報(bào)費(fèi)片。 

注:(1)在一切正常包裝印刷圖型處時(shí),依照“包裝印刷圖型”要求分辨,沒有包裝印刷圖型處時(shí)依照以上要求辨別。 

(2)跑模在背靜電場(chǎng)或背電級(jí)時(shí),依據(jù)鋁苞要求分辨

(3)跑模在側(cè)邊時(shí),假如影象電池片電氣性能和外型時(shí),則返修后再次歸類檢驗(yàn),隨后再次判斷,假如不危害電池片電氣性能和外型的時(shí)候一切正常排出 

(4)硅晶掉下來按跑??偯娣e判斷新的規(guī)范:與舊的規(guī)范同樣側(cè)邊漏漿片做打磨拋光片解決打磨拋光片處理過程非鋁苞片:一概出口(不 Rsh≥6)零頭和滿包全入出口貨位備注名稱:DM選用黃標(biāo)識(shí)鋁苞片:暫未作自購(gòu)片待產(chǎn)品研發(fā)作部件實(shí)驗(yàn)( Rsh≥6)零頭入鋁苞零頭貨位滿包入鋁苞滿包貨位備注名稱:DM LB選用白標(biāo)識(shí)




電池片的制作工藝

影響因素

1 .頻率

射頻 PECVD 系統(tǒng)大都采用 50kHz~13.56 MHz 的工業(yè)頻段射頻電源。較高頻率( >4MHz )沉積的氮化硅薄膜具有更好的鈍化效果和穩(wěn)定性。

2 .射頻功率

增加 RF 功率通常會(huì)改善 SiN 膜的質(zhì)量。但是,功率密度不宜過大,超過 1W/cm2 時(shí)器件會(huì)造成嚴(yán)重的射頻損傷。

3 .襯底溫度

PECVD 膜的沉積溫度一般為 250 ~ 400 ℃ 。這樣能保證氮化硅薄膜在HF 中有足夠低的腐蝕速率,并有較低的本征壓力,從而有良好的熱穩(wěn)定性和抗裂能力。低于 200 ℃ 下沉積的氮化硅膜,本征應(yīng)力很大且為張應(yīng)力,而溫度高于 450 ℃ 時(shí)膜容易龜裂。

4 .氣體流量

影響氮化硅膜沉積速率的主要?dú)怏w是 SiH4 。為了防止富硅膜,選擇NH3/SiH4=2~20 (體積比)。氣體總流量直接影響沉積的均勻性。為了防止反應(yīng)區(qū)下游反應(yīng)氣體因耗盡而降低沉積速率,通常采用較大的氣體總流量,以保證沉積的均勻性。

5 .反應(yīng)氣體濃度

SiH4 的百分比濃度及 SiH4/NH3 流量比,對(duì)沉積速率、氮化硅膜的組分及物化性質(zhì)均有重大影響。

理想 Si3N4 的 Si/N = 0.75 ,而 PECVD 沉積的氮化硅的化學(xué)計(jì)量比會(huì)隨工藝不同而變化,但多為富硅膜,可寫成 SiN 。因此,必須控制氣體中的 SiH4 濃度,不宜過高,并采用較高的 SiN 比。除了 Si 和 N 外, PECVD 的氮化硅一般還包含一定比例的氫原子,即 SixNyHZ 或 SiNx :H 。

6 .反應(yīng)壓力、和反應(yīng)室尺寸 等都是影響氮化硅薄膜的性能工藝參數(shù)。







電池片流程

振鑫焱光伏科技有限公司常年采購(gòu):高價(jià)回收硅片,電池片,初級(jí)多晶硅,銀漿布,單晶硅,多晶硅,太陽(yáng)能電池,光伏組件,太陽(yáng)能電池板,客戶撤退,降級(jí),庫(kù)存,El,不良測(cè)試,二手,舊工程,拆卸,路燈,拆解電站,拆卸,膠合板,層壓板,無邊界晶體硅,多晶硅,單晶硅,實(shí)驗(yàn)板,債務(wù)償還,返工,光伏模塊回收等。

電池片流程


1、   車間段位構(gòu)成

WHQ :硅片為太陽(yáng)能電池片的載體,硅片的質(zhì)量決定了電池片的轉(zhuǎn)換效率。而該工序則是對(duì)硅片的來料檢測(cè),主要是包括厚度, TTV ,電阻率,外觀 (破片,缺角,孔洞,臟污)

需注意 :

1)   切割方向會(huì)厚薄不均,放片時(shí)需 180 度錯(cuò)落放置以保證放入載體厚薄均勻,切割方向需要垂直與印刷 細(xì) 柵方向,預(yù)防水波紋出現(xiàn)。

2)   線痕:   單線痕

密集線痕

3 )原硅片因切割后因有清洗所以會(huì)有粘度導(dǎo)致原硅片粘連,放置時(shí)需輕微搖晃。

制絨: 目的:去除表面損傷層,對(duì)表面進(jìn)行凹凸處理 ,清楚表面硅酸鈉,氧化物,油污以及金屬。以提高光電轉(zhuǎn)換率。

減重 ,活性不均勻會(huì)影響到后面 PEVCD 工序使硅片出現(xiàn)問題制絨過程中, 制絨面朝下,裝入載體,載體單孔面為制絨面。在制品時(shí)間為兩小時(shí),兩小時(shí)內(nèi)要及時(shí)送入下一工序。





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