一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內(nèi)部結(jié)構(gòu)

   X熒光光譜測厚儀機(jī)型很多，但是其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如果先天不足，后期的外部結(jié)構(gòu)無論自動(dòng)化多高，也無法完全滿足客戶需求。內(nèi)部結(jié)構(gòu)重要的3點(diǎn)：

1、X熒光發(fā)射和CCD觀測是否同步和垂直？

2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散情況。

（二）、各種內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)

   1、X熒光發(fā)射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會因?yàn)闃悠返母叩蜕顪\變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準(zhǔn)，同時(shí)減少與探測器或計(jì)數(shù)器的夾角，夾角小測試時(shí)

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時(shí)也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補(bǔ)償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散過于嚴(yán)重會導(dǎo)致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準(zhǔn)直器直徑），又會嚴(yán)重耗損X光的強(qiáng)度。

因此一臺此類儀器的小準(zhǔn)直器不是關(guān)鍵，但是測試面積卻是個(gè)重要的指標(biāo)。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

X射線熒光光譜分析儀結(jié)構(gòu)及組成：用X射線照射式樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此試用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定的波長，同事又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有2種基本類型：波長色散型（WD）和能量色散性（ED）。5x10、1x10、2x10、4x16等4測量斑點(diǎn)尺寸在12。

波長色散型是由色散元件將不同波長的特征X射線衍射到不同的角度上，探測器需移動(dòng)到想要的位置上來探測某一波長能量的射線。而能量色散型，是由探測器本身的能量分辨本領(lǐng)直接探測X射線的能量。-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實(shí)時(shí)CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。波長色散型譜線分辨本領(lǐng)高，而能量色散型可同時(shí)測量多條譜線的能量。

江蘇一六儀器    選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個(gè)理由：

1、無損檢測

      鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。

2、強(qiáng)化品質(zhì)管控

     X熒光光譜鍍層檢測儀可以準(zhǔn)確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù)，這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。

3、提升生產(chǎn)力

      傳統(tǒng)的檢測技術(shù)，既耗時(shí)又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動(dòng)力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助，從而帶來更多的經(jīng)濟(jì)效益。

4、提升市場競爭力

    X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動(dòng)生產(chǎn)力，也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競爭優(yōu)勢。