一六儀器  X-RAY測厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來電咨詢!

測厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

  測量注意事項：⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

 測量注意事項：1.測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

2.測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

性能優(yōu)勢：

   下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

 我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

三、操作步驟

4. 判斷是否需要校準(zhǔn)儀器。如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行校 準(zhǔn)；

  5.  測量。將測頭垂直接觸工件的測量面，并輕壓測頭的加載套，當(dāng) 測頭與被測工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標(biāo)識和測量值。如果測量標(biāo)識閃爍或無測量標(biāo)識則表示測頭不穩(wěn)定.移開測頭后，測量標(biāo)識消失，厚度值保持。

  6.  儀器關(guān)機(jī)

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 精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

X射線測厚儀應(yīng)用在哪些方面

     X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面？對于我們要使用到測厚儀的廠家來說，測厚儀能否適用于我們的產(chǎn)品是非常重要的，那么X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面？接下來就來了解下：

   X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，已達(dá)到要求的軋制厚度。