X射線熒光鍍層測厚儀  

一六儀器快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

1.超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，大測定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。當(dāng)儀器出現(xiàn)非正?，F(xiàn)象時(shí)，請不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件，請交給廠家維修部門檢測、維修。

2.磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。b在搬運(yùn)、安裝和調(diào)試的全過程中，工程項(xiàng)目部必須對施工人員設(shè)置安全防護(hù)監(jiān)督崗，使其嚴(yán)格執(zhí)行同位素操作的有關(guān)規(guī)定。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。

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性能優(yōu)勢：

 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。

 無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

 微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

 精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

 EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

X射線測厚儀應(yīng)用在哪些方面

     X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面？對于我們要使用到測厚儀的廠家來說，測厚儀能否適用于我們的產(chǎn)品是非常重要的，那么X射線測厚儀主要應(yīng)用在哪些方面？接下來就來了解下：

   X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，已達(dá)到要求的軋制厚度。