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耐電流參數(shù)測(cè)試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測(cè)試儀
★HCT測(cè)試,High current test,耐電流測(cè)試,Current loading test
耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下●測(cè)試過(guò)程數(shù)據(jù)表格顯示樣品測(cè)試完成后,樣品的測(cè)試條件以及測(cè)試結(jié)果顯示在測(cè)試表格中。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。
耐電流測(cè)試具有快速的特點(diǎn)。
耐電流測(cè)試具有直觀的特點(diǎn)。
耐電流測(cè)試具有全l面的特點(diǎn),所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。
過(guò)去雷射盲孔的檢測(cè),是運(yùn)用肉眼或3D測(cè)量?jī)x器進(jìn)行逐一檢測(cè),這種方法非常消耗人力,辛苦且只能檢查到一小部分的孔,威太的雷射盲孔檢測(cè)儀可全l面檢測(cè)HDI及ABF板上的每一個(gè)孔,且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒,不但可以測(cè)出不良盲孔,更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告,做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下內(nèi)置室溫檢測(cè)儀器內(nèi)置室溫檢測(cè),實(shí)時(shí)檢測(cè)室內(nèi)溫度,保證測(cè)試樣品溫度的準(zhǔn)確性。
針對(duì)雷射鉆孔的需求,提供具成本與效益的檢查機(jī)量測(cè)解決方案。
HDI板盲孔互聯(lián)失效原因
激光蝕孔時(shí) 能量過(guò)大 激光蝕孔法是目前制作盲孔的主要生產(chǎn)工藝,CO2激光雖然不能直接燒蝕銅層,但銅層如果經(jīng)過(guò)特殊處理,使其表面具有強(qiáng)烈吸收紅外線波長(zhǎng)特性,就會(huì)使銅層在瞬間迅速提高到很高的溫度。因此,對(duì)某種測(cè)試孔鏈進(jìn)行HCT測(cè)試之前,需要通過(guò)多次嘗試,為此種孔鏈找到合適的直流電流,使得此種孔鏈樣品能在此電流下達(dá)到測(cè)試要求,即,1)在t0至(t1 -容差)時(shí)間內(nèi),樣品的溫度升高達(dá)到T1。盲孔底部的內(nèi)層銅一般都經(jīng)過(guò)棕化處理,由于棕化后的銅表面對(duì)激光的反射較少,同時(shí)其粗糙的表面結(jié)構(gòu)增加了光的漫反射作用,從而增大了對(duì)光波的吸收,且棕化銅箱表面為有機(jī)層結(jié)構(gòu),也可以促進(jìn)光的吸收。因此激光打孔后如果激光能量過(guò)大,就有可能使盲孔底部的內(nèi)層銅表層發(fā)生再結(jié)晶,造成內(nèi)層銅組織發(fā)生變化。
耐電壓測(cè)試儀是測(cè)量耐電壓強(qiáng)度的儀器,它可以直觀、準(zhǔn)確、快速、可靠地測(cè)試各種被測(cè)對(duì)象的擊穿電壓、漏電流等電氣安全性能指標(biāo),并可以作為支流高壓源用來(lái)測(cè)試元器件和整機(jī)性能。盲孔底部的內(nèi)層銅一般都經(jīng)過(guò)棕化處理,由于棕化后的銅表面對(duì)激光的反射較少,同時(shí)其粗糙的表面結(jié)構(gòu)增加了光的漫反射作用,從而增大了對(duì)光波的吸收,且棕化銅箱表面為有機(jī)層結(jié)構(gòu),也可以促進(jìn)光的吸收。ZHZ8型耐電壓測(cè)試儀,是按國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)要求而設(shè)計(jì),耐壓AC從0-5KV,漏電流從AC0-20mA。適合各種家用電器、電源線、電纜線、變壓器接線端子、高壓膠木電器、開(kāi)關(guān)、電源插座、電機(jī)、洗碟機(jī)、洗碗機(jī)、離心脫水機(jī)、微波爐、電烤箱、電火鍋、電飯鍋、電視機(jī)、電風(fēng)扇、、化工、電子儀器、儀表、整機(jī)等,以及強(qiáng)電系統(tǒng)的安全耐壓和漏電流的測(cè)試,同時(shí)也是科研實(shí)驗(yàn)室技術(shù)監(jiān)督部門不可缺少的耐壓測(cè)試設(shè)備。