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張家口正置偏光顯微鏡服務為先「在線咨詢」

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發(fā)布時間:2021-04-12 15:48  
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視頻作者:迪卡爾科技(天津)有限公司






測量顯微鏡的發(fā)展歷史:

17世紀中葉,英國的胡克和荷蘭的列文胡克,都對顯微鏡的發(fā)展作出了的貢獻。1665年前后,胡克在顯微鏡中加入粗動和微動調(diào)焦機構、照明系統(tǒng)和承載標本片的工作臺。這些部件經(jīng)過不斷改進,成為現(xiàn)代顯微鏡的基本組成部分。1673~1677年期間,列文胡克制成單組元放大鏡式的高倍顯微鏡,其中九臺保存至今。胡克和列文胡克利用自制的顯微鏡,在動、植物機體微觀結構的研究方面取得了杰出成就。19世紀,高質(zhì)量消色差浸液物鏡的出現(xiàn),使顯微鏡觀察微細結構的能力大為提高。1827年阿米奇?zhèn)€采用了浸液物鏡。19世紀70年代,德國人阿貝奠定了顯微鏡成像的古典理論基礎。這些都促進了顯微鏡制造和顯微觀察技術的迅速發(fā)展,并為19世紀后半葉包括科赫、巴斯德等在內(nèi)的生物學家和醫(yī)學家發(fā)現(xiàn)細菌和微生物提供了有力的工具。在顯微鏡本身結構發(fā)展的同時,顯微觀察技術也在不斷。




測量顯微鏡的主要功能介紹

測量顯微鏡的主要功能: 1、幾何測量功能 線、圓、矩形、多邊形、角度等測量工具,對圖像上兩點距離、線段長度、線距、圓半徑直徑、面積、角度、矩形、折線、多邊形、點線、平行線距的等幾何參數(shù)進行測量。 2、自動尋邊測量功能 可根據(jù)取點范圍,自動識別線、圓、弧,具有極強的去毛邊的功能,并極大地提高線距、線夾角、圓半徑、弧半徑測量精度,避免人工誤差。 測量顯微鏡 3、圖像處理功能 圖像模糊及銳化;亮度/對比度調(diào)節(jié);RGB增益調(diào)節(jié);多幅圖片組合功能,包括圖片間邏輯與,邏輯或,疊加等操作;鏡像,旋轉(zhuǎn)功能;提取邊緣功能;浮雕效果;圖像對比功能(即把拍下來的兩張或多張圖像在同一窗口顯示進行比較);圖像拼接功能;單獨選擇圖像的某一個部份進行操作。 4、視頻處理功能 視頻的實時播放,暫停,停止功能;自動白平衡,自動曝光功能;視頻參數(shù)設置功能(RGB設置,gamma調(diào)節(jié),曝光設置,偏移量設置等等);視頻縮放顯示及視頻大小控制功能;視頻上下、左右反轉(zhuǎn)功能等;視頻采集功能,包括靜態(tài)捕獲、原始圖像采集。 5、圖像數(shù)據(jù)管理與輸出 圖像庫瀏覽、圖像標注、文字操作、打印等功能實現(xiàn);測量圖片可存為bmp、jpg格式。


金相顯微鏡可用于鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質(zhì)的組

金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉(zhuǎn)換技術、計算機圖像處理技術wan美地結合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品,可以在計算機上很方便地觀察金相圖像,從而對金相圖譜進行分析,評級等以及對圖片進行輸出、打印。金相顯微鏡可用于鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質(zhì)的組織結構。 倒置金相顯微鏡是金相顯微鏡的一種,通常又分為倒置偏光金相顯微鏡,倒置相差金相顯微鏡,倒置微分金相顯微鏡,倒置暗場金相顯微鏡等。金相顯微鏡之所以稱為倒置金相顯微鏡主要是根據(jù)工作臺和物鏡的位置關系來決定的。通常物鏡在工作臺下方的金相顯微鏡就可以叫做倒置金相顯微鏡,類似的還有倒置生物顯微鏡,倒置熒光顯微鏡等。 倒置的結構給倒置金相顯微鏡帶來了很多的優(yōu)點:因為鏡頭在工作下方,所以用顯微鏡觀察時就不用考慮物體非觀察面的平整情況,并且由于倒置式臺面上方空曠,也不用考慮被觀察式樣的高低或者大小。正因為有這兩個顯著優(yōu)點,倒置金相顯微鏡在金屬材料或者其它固體塊狀物體的研究中應用廣泛,但是由于鏡頭在工作臺下方,通常也容易導致鏡頭積灰,這就需要顯微鏡使用者勤加保養(yǎng)顯微鏡,避免因為鏡頭的污染影響觀察效果。 隨著工業(yè)的發(fā)展,倒置金相顯微鏡已廣泛地應用于電子、化工和儀器儀表行業(yè),用來觀察不透明物質(zhì)的表面現(xiàn)象進行研究分析等工作;芯片、印刷電路板、液晶板、線材、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料等,對一些表面狀況進行研究分析等工作。


倒置金相顯微鏡-

倒置金相顯微鏡--金相試樣制備步驟: 1.縱向取樣 縱向取樣是指沿著鋼材的鍛軋方向進行取樣。主要檢驗內(nèi)容為:非金屬夾雜物的變形程度、晶?;兂潭取⑺苄宰冃纬潭?、變形后的各種組織形貌、熱處理的情況等。 2.橫向取樣 橫向取樣是只垂直于鋼材鍛扎方向取樣。主要檢驗內(nèi)容為:金屬材料從表層到中心的組織、顯微組織狀態(tài)、晶粒度級別、碳化物網(wǎng)、表層缺陷深度、氧化層深度、脫碳層深度、腐蝕層深度、表面化學熱處理及鍍層厚度等。 3.缺陷或失效分析取樣 截取缺陷分析的試樣,應包括零件的缺陷部分在內(nèi)。取樣時應注意不能使缺陷在磨制時被損傷甚至消失。 金相試樣的大小以便于握持、易于磨制為準。通常顯微試樣為直徑15mm、高15~20mm的圓柱體或邊長為15~25mm的立方體。試樣可用手鋸、砂輪切割機、剪切、鋸、刨、車、銑等截取。硬而脆的金屬可以用錘擊法取樣。不論用哪種方法切割,均應注意不能使試樣由于變形或過熱導致組織發(fā)生變化。對于使用高溫切割的試樣,必須除去熱影響部分。


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