AOI的全稱是自動光學檢測，是基于光學原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。目前AOI的功能一般都比較全，也沒有多大的差別。下面就一些常見的功用作一些簡要的說明。分辨率的選擇：AOI的分辨率應(yīng)以像元的尺寸大小作為判別的條件，也就是空間分辨率來衡量。像素的大小不是判別AOI檢出能力的標準，準確地講像素大，是決定單位面積像元尺寸大小的因素。如果單位面積不同，像素再高也沒有可比性。

電子設(shè)備幾乎不可能脫離電路板而工作，印制電路板在諸如集成電路（IC）等組件之間的電連接中起著關(guān)鍵作用。由于現(xiàn)代技術(shù)的迅速發(fā)展和人們對電子設(shè)備的持續(xù)更高的要求，如今的電路比幾年前更加復雜，密集程度更高。

當涉及裸板電路板和組裝電路板檢測方法時，人工檢測在一定程度上是有意義的。但是，因為人工檢測無法深入到電路板內(nèi)部，所以很難應(yīng)用于現(xiàn)代電路板的檢測。

檢測誤判的定義及存在原困 誤判的理解及產(chǎn)生原因： 元件及焊點無不良傾向，但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性，而造成AOI判定良與否有一定的難度，為保證檢出效果，將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短，AOI進行檢測時較難進行很準確的判定，此類情況所造成的誤判較難消除，除非改進 DFM或放棄此類元件的焊點不良檢測。