FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

半積分球。大塚電子獨(dú)有專利，提高積分球測(cè)試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨(dú)有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對(duì)粉末和固體測(cè)試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(3)光譜可擴(kuò)展, 光譜探測(cè)范圍可擴(kuò)展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級(jí)配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

光纖在極度彎曲后會(huì)有可能發(fā)生斷裂。故,請(qǐng)將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時(shí)用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進(jìn)行確認(rèn)。請(qǐng)將激發(fā)波長設(shè)置到可視光范圍內(nèi)確認(rèn)。