頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機制

易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析

獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕i對反射率進行測量，可進行高i精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件

膜厚儀如何系統(tǒng)校準?

校準的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會遇到的問題。系統(tǒng)校準、零點校準還有兩點校準其實都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統(tǒng)校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

1.膜厚測試儀出現(xiàn)下列情況，必需重新校準。　　·校準時，輸入了一個錯誤值；　　·操作錯誤?！　?.在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應(yīng)緊接著做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值?！　?.每一組單元中，只能有一個校準值?！　?.零點校準和二點校準都可以重復(fù)多次，以獲得更為精準的校準值，提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量，則校準過程便告結(jié)束。