鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)鹽霧試驗(yàn)條件，如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規(guī)定，另外還對(duì)鹽霧試驗(yàn)箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗(yàn)的特性和金屬的腐蝕速度及對(duì)鹽霧的敏感程度選擇。下面介紹幾個(gè)鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T2423.17—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》，GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》，GB5938—86《輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗(yàn)方法》，GB/T1771—91《色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測(cè)定》。種類(lèi)：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS），醋酸鹽霧試驗(yàn)(ASS)，銅鹽醋酸加速鹽霧試驗(yàn)(CASS)鹽霧試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：鹽溶液濃度、相對(duì)濕度、溫度、鹽霧時(shí)間、貯存時(shí)間、試驗(yàn)周期，集霧量，PH值。

鹽霧腐蝕會(huì)破壞金屬保護(hù)層，使它失去裝飾性，降低機(jī)械強(qiáng)度；一些電子元器件和電器線路，由于腐蝕而造成電源線路中斷，特別是在有振動(dòng)的環(huán)境中，尤為嚴(yán)重；當(dāng)鹽霧降落在絕緣體表面時(shí)，將使表面電阻降低；絕緣體吸收鹽溶液后，它的體積電阻將降低四個(gè)數(shù)量級(jí)；在達(dá)到平衡狀態(tài)以前，隨著時(shí)間的增加，溶入（或逸出）的量也將增加。機(jī)械部件或運(yùn)動(dòng)部件的活動(dòng)部位由于腐蝕物的產(chǎn)生，而增加了摩擦力以至造成運(yùn)動(dòng)部件被卡死。

不同標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)原理和基本試驗(yàn)方法是相同的，但在對(duì)鹽溶液的要求、試驗(yàn)參數(shù)、試驗(yàn)過(guò)程控制、試驗(yàn)周期、試樣處理和試驗(yàn)檢測(cè)等方面有不同的規(guī)定。鹽霧試驗(yàn)箱示意圖在GB/T10125-1997 中規(guī)定了中性鹽霧試驗(yàn)(NSS)、鹽霧試驗(yàn)(AASS)和銅加速鹽霧試驗(yàn)(CASS)3種方法，而大部分鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)都采用中性鹽霧試驗(yàn)方法。試驗(yàn)溶液將化學(xué)純的氯化鈉溶于蒸餾水或去離子水中，其濃度為50±5g/L。