超聲波涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范

超聲波涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范測(cè)量留意下列事項(xiàng)：⒈在進(jìn)行檢驗(yàn)的狀況下需要留意標(biāo)準(zhǔn)片團(tuán)隊(duì)的金屬材料帶磁和表面表面表面粗糙度理當(dāng)與試件相近。⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試件表面保持垂直。如果選擇種類(lèi)或使用方法不當(dāng)將有可能造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無(wú)法測(cè)值。⒊測(cè)量時(shí)要留意基體金屬材料的臨界點(diǎn)薄厚，倘若超出這一薄厚測(cè)量都不受基體金屬材料薄厚的傷害。⒋測(cè)量時(shí)要留意試件的折光率對(duì)測(cè)量的傷害。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。⒌測(cè)量前要留意附近其他的電器設(shè)備是不是會(huì)導(dǎo)致磁場(chǎng)，假如會(huì)將會(huì)危害帶磁測(cè)厚法。⒍測(cè)量時(shí)要留意無(wú)須之內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕耐繉訙y(cè)厚儀試件表面模樣的忽然變化很較為比較敏感。⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的平穩(wěn)，要不然會(huì)傷害測(cè)量的讀數(shù)。

超聲波無(wú)損傷檢測(cè)原理1.1超聲波概述超聲波是機(jī)械波的一種，在媒介中傳播遵循幾何光學(xué)原則，會(huì)產(chǎn)生波的反射、折射、散射、疊加等現(xiàn)象。超聲波探傷物理原理是采用機(jī)械振動(dòng)與波動(dòng)進(jìn)行結(jié)構(gòu)無(wú)損探傷。（3）檢測(cè)面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無(wú)法接受到底波信號(hào)。 　　超聲波探傷方法按其原理可分為三類(lèi)：脈沖反射法、穿透法和共振法。 　　其中脈沖反射法為常用。脈沖法用超聲波探頭發(fā)射脈沖到構(gòu)件需要被檢測(cè)的部位，根據(jù)反射波的情況分析結(jié)構(gòu)內(nèi)部是否存在缺陷。脈沖反射法中的方法為缺陷回波法。其示意圖如下所示。當(dāng)構(gòu)件內(nèi)沒(méi)有損傷時(shí)，超聲波只在構(gòu)件上表面和下表面出現(xiàn)反射脈沖T和B，而在構(gòu)件內(nèi)部不產(chǎn)生反射脈沖，如中（1）所示。反之，如果構(gòu)件內(nèi)部有損傷，則超聲波在構(gòu)件內(nèi)部傳播時(shí)也會(huì)反射脈沖F

超聲波涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范對(duì)于薄材料，在它的厚度接近于探頭測(cè)量下限時(shí)，可用試塊來(lái)確定準(zhǔn)確的低限。不要測(cè)量低于下限厚度的材料。多種多樣好用測(cè)量模式：規(guī)范測(cè)量模式，值測(cè)量模式，值測(cè)量模式，差值測(cè)量模式，均值測(cè)量模式，高溫測(cè)量模式（配高溫探頭）。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的，那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。當(dāng)被測(cè)材料較厚時(shí)，特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等，應(yīng)在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測(cè)材料的，以便于掌握校準(zhǔn)。大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性，在不同的方向上，聲速將會(huì)有少量變化，為了解決這個(gè)問(wèn)題，試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。在一定情況下，查已知材料的聲速表，可代替參考試塊，但這只是近似地代替一些參考試塊，在一些情況下，聲速表中的數(shù)值與實(shí)際測(cè)量有別，這是因?yàn)椴牧系奈锢砑盎瘜W(xué)情況有異。

第二代儀器，采用的是“界面——回波”技術(shù).

即，事先剔除脈沖信號(hào)從晶振片開(kāi)始到被測(cè)物表面的時(shí)間；

這種技術(shù)的出現(xiàn)，其目的本來(lái)是為了剔除“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離”給測(cè)厚帶來(lái)的誤差，事實(shí)上，這個(gè)“距離”，與要測(cè)的厚度通常不在一個(gè)數(shù)量級(jí)上，因此，其適用性只在一個(gè)很窄的范圍內(nèi)才有意義。超聲波涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范 由于超音波涂層測(cè)厚儀體型小，品質(zhì)輕，速度更快，，方便使用，因而普遍用以高壓容器定期檢驗(yàn)時(shí)的厚度測(cè)量。這種技術(shù)自本世紀(jì)初，在國(guó)外的儀器中開(kāi)始有大量的應(yīng)用，但作為一種“權(quán)宜之計(jì)”的過(guò)渡技術(shù)，很快被跨越，不到五年的時(shí)間，就讓出了它的“優(yōu)越地位”。

第三代儀器，采用的是“回波——回波”技術(shù)。

即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的時(shí)間差為基礎(chǔ)來(lái)計(jì)算厚度；這種技術(shù)，與“界面——回波”技術(shù)有相同的地方，即，都不用考慮“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離”帶來(lái)的測(cè)量誤差，但同樣，只在小范圍內(nèi)才有適用意義。

這種技術(shù)得以應(yīng)用，其更大意義在于：該技術(shù)改變了儀器的電路結(jié)構(gòu)，使得儀器可以給換能器（探頭）更大的能量、并能更好地分檢回波信號(hào)，因此，應(yīng)對(duì)“信號(hào)衰減”，采用這種技術(shù)的儀器比前兩代儀器有了質(zhì)的提升；也因此，“回波—回波”，成了迄今為止先進(jìn)超聲波測(cè)厚儀共同的技術(shù)基礎(chǔ)。用左右按鍵調(diào)整顯示值，使之與校準(zhǔn)試塊的薄厚一致，隨后在按CAL/ON鍵，出現(xiàn)“HI”（厚）校準(zhǔn)的提醒，將探頭與校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊耦合，待耦合指示燈亮，即讀值平穩(wěn)。

第四代儀器，采用的是“A掃描信號(hào)測(cè)厚”技術(shù)。

前面三代都是“讀數(shù)型測(cè)厚儀”，不管讀哪幾次波，*終都是靠事先設(shè)定的程序由儀器來(lái)判定和計(jì)算的。用經(jīng)緯儀測(cè)某面墻體的傾斜度，可將經(jīng)緯儀放置在墻面與地面交線上某處，經(jīng)緯儀中線對(duì)準(zhǔn)墻頂邊線，豎向移動(dòng)經(jīng)緯儀觀測(cè)筒劃至墻底，在墻底放一水平刻度尺就可以而且快捷的得到墻體側(cè)移量。而“A掃測(cè)厚儀”則是將所有的信號(hào)都顯示在屏幕上，由操作者自行判斷、并且可以計(jì)算任意兩次波的時(shí)間差，也就是說(shuō)，將測(cè)量的主動(dòng)權(quán)交給了操作者，這對(duì)于分析型測(cè)厚、以及雜波信號(hào)較多的測(cè)厚非常有幫助；

第五代儀器，采用的是單晶探頭。

前面四代測(cè)厚儀，使用的都是雙晶探頭（只有在超薄件測(cè)厚中，才有專(zhuān)門(mén)的機(jī)型使用高頻單晶探頭），而雙晶探頭，由于晶振片排列的結(jié)構(gòu)性因素，超聲波的傳遞呈現(xiàn)出一個(gè)“V”型路徑，這意味著，晶振片發(fā)射和接收信號(hào)的有效面積勢(shì)必受到“V”路徑的影響，也就是說(shuō)，每個(gè)雙晶探頭的測(cè)厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。⒊測(cè)量時(shí)要留意基體金屬材料的臨界值厚度，假如超過(guò)這一厚度測(cè)量也不受基體金屬材料厚度的危害。