X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家  一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!

X射線

   德國物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時(shí)，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對(duì)的位置裝置金屬陽極，在陰陽兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時(shí)，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。對(duì)X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內(nèi)層電子能級(jí)間發(fā)生躍遷時(shí)所發(fā)射的電磁輻射。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

  一、技術(shù)參數(shù)

  采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

  測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測(cè)頭）

  示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測(cè)涂層厚度

  顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）

  持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線，入射的X射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。eX射源安裝完畢，在開啟的狀態(tài)下，對(duì)周圍的射線輻射劑量進(jìn)行檢測(cè)，在安全區(qū)不得超過人體當(dāng)量的允許值（一般情況下是安全的）。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。插拔測(cè)頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測(cè)頭，以避免損壞測(cè)頭電纜芯線。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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儀器規(guī)格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環(huán)境溫度：15℃-30℃

 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。我們利用測(cè)厚儀測(cè)量是,會(huì)事先給測(cè)厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測(cè)量值與實(shí)際值相等。X射線的激發(fā)如果要得到某元素的特征X射線，需要對(duì)元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，當(dāng)較高能級(jí)電子填補(bǔ)這一空穴時(shí)，才會(huì)發(fā)射一定能量的特征X射線，這個(gè)過程就是X射線的激發(fā)。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度。