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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
一六儀器快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.
測(cè)厚儀分類:
1.超聲波測(cè)厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射,測(cè)量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間,即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。對(duì)于鋼材,大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。
2.磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí),測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
一六儀器 X-RAY測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來(lái)電咨詢!
測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!
一六儀器提供的測(cè)厚儀可測(cè)試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
一六儀器 國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀
一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些
我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí),如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題,甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來(lái)了解下先:
一、技術(shù)參數(shù)
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;
測(cè)量范圍:(0~1250)μm(F1、N1測(cè)頭),F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm;
分辨率:0.1μm(F1、N1測(cè)頭)
示值精度:±(3%H 1)μm;H為被測(cè)涂層厚度
顯示方法:高對(duì)比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光;
存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)20組(每組多50個(gè)測(cè)量數(shù)值)測(cè)量數(shù)據(jù)
單位制:公制μm、英制(mil)、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓:3V(2節(jié)5號(hào)堿性電池)
持續(xù)工作時(shí)間:大于200小時(shí)(不開(kāi)背光燈)
通訊接口:USB1.1,可與PC機(jī)連接、通訊