一六儀器  光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠  一六儀器一liu品質(zhì)  可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢!

測(cè)厚儀精度怎么測(cè)：

測(cè)厚儀精度不需要自行測(cè)試，只需打開(kāi)說(shuō)明書(shū)或者測(cè)厚儀銘牌出就可以找到具體精度。

      普通的測(cè)厚儀的精度有0.1mm，0.01mm，還有0.001mm的三種，第三種一般為薄膜測(cè)厚儀，精度要求高一些。測(cè)厚儀還有涂層測(cè)厚儀，這種一般都是0.001mm級(jí)的，國(guó)產(chǎn)的對(duì)于測(cè)量厚度在0.020mm以下的精度很差的，進(jìn)口才行。

      而國(guó)產(chǎn)的一般有4-5個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片，不同厚度有不同的標(biāo)準(zhǔn)片，進(jìn)口的則只有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片的。超聲波測(cè)厚儀有0.01mm級(jí)的和0.001mm級(jí)的（一般都是進(jìn)口的）。

江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。

我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車(chē)電子等制造領(lǐng)域。尤其是在熱軋的過(guò)程中,測(cè)量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當(dāng)溫度高時(shí),測(cè)量值減小,當(dāng)溫度低時(shí),測(cè)量值則增加。

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

  我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來(lái)了解下先：

一、維護(hù)及注意事項(xiàng)

  1. 應(yīng)避免儀器及測(cè)頭受到強(qiáng)烈震動(dòng)；

  2. 避免儀器置于過(guò)于潮濕的環(huán)境中；

  3.  插拔測(cè)頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測(cè)頭，以避 免損壞測(cè)頭電纜芯線。

  4.  油、灰塵的附著會(huì)使測(cè)頭線逐漸老化、斷裂，使用后應(yīng)清除纜線上的污垢。

  5.    當(dāng)儀器出現(xiàn)非正?，F(xiàn)象時(shí)，請(qǐng)不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件，請(qǐng)交給廠家維修部門(mén)檢測(cè)、維修。

江蘇一六儀器有限公司   X射線熒光光譜測(cè)厚儀

先進(jìn)的技術(shù)，專(zhuān)業(yè)的團(tuán)隊(duì)，嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。歡迎咨詢聯(lián)系！

性能優(yōu)勢(shì)：

  下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

  無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002m㎡的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

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儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類(lèi)，也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣，對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測(cè)厚儀按原理分類(lèi):激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。

測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。