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宿州熒光測(cè)厚儀歡迎來(lái)電

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發(fā)布時(shí)間:2020-10-04 22:12  







一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)

1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。

2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。

3.鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。

4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過(guò)程中,環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。

5.儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對(duì)儀器造成損害。

6.為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。

7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。

8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。

9.不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話,可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

定位方式:


    1、移動(dòng)平臺(tái):

       A、手動(dòng)(普通和帶精密滑軌移動(dòng)):裝配設(shè)計(jì)不同精準(zhǔn)移位從0.5mm-0.005mm不等,移動(dòng)的靈動(dòng)性差距也很大。

       B、電動(dòng)(自動(dòng)):裝配設(shè)計(jì)不同精準(zhǔn)移位從0.2mm-0.002mm不等

但同樣的手動(dòng)或者自動(dòng),其定位精準(zhǔn)也相差很多。

     2、高度定位:

         A、手動(dòng)變焦和無(wú)變焦

         B、激光對(duì)焦和CCD識(shí)別對(duì)焦



江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀

儀器規(guī)格:

   外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)

   樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)

   儀器重量 :55kg

   供電電源 :交流220±5V

   功率 :330W

   環(huán)境溫度:15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度:<70%

EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的, 根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。通過(guò)對(duì)比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用,可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

常用的EDX探測(cè)器是硅滲鋰探測(cè)器。當(dāng)特征X射線光子進(jìn)入硅滲鋰探測(cè)器后便將硅原子電離,產(chǎn)生若干電子-空穴對(duì),其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對(duì),經(jīng)過(guò)一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器,并計(jì)數(shù)能譜中每個(gè)能帶的脈沖數(shù)。但是由于影響熒光X射線的強(qiáng)度的因素較多,除待測(cè)元素的濃度外,儀器校正因子,待測(cè)元素X射線熒光強(qiáng)度的測(cè)定誤差,元素間吸收增加效應(yīng)校正,樣品的物理形態(tài)(如試樣的均勻性、厚度,表面結(jié)構(gòu)等)等都對(duì)定了分析結(jié)果產(chǎn)生影響。

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