一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標準塊校準儀器。后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標準塊應具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應知其組成。其電鍍工藝流程如下：浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級逆流漂洗→微蝕→二級浸酸→鍍錫→二級逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級逆流漂洗→鍍鎳→二級水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級純水洗→烘干。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標準塊，將是可靠的。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應當已知。

金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。

2．標準塊的選擇

可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。準直器任意選擇或者任意切換最近測距光斑擴散度：9%測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)樣品觀察：1/2。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標準塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀

性能優(yōu)勢：

   下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   jie shou 器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動范圍、CP、數(shù)據(jù)編號、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能

-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師-任選軟件統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析檢測。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。以食品檢測為例，常買糧食的朋友應該都知道，零食的包裝上有一個營養(yǎng)成分表，用來向消費者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質(zhì)、碳水化合物、鈉等主要營養(yǎng)成分的含量，而這些數(shù)據(jù)的獲得就離不開光譜分析儀。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

目前，金屬鍍層常用的分析方法有濕化學電解分析、輝光放電---發(fā)射光譜分析（GD-OES）和X射線熒光光譜儀等。此類設(shè)備的Z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，確保測量的準確性。濕化學電解分析需選用適當溶劑溶解選定的鍍層，逐層溶解并進行測定，方法準確但費時費力，尤其是相關(guān)特定溶劑的選擇也非常復雜，價格又貴，屬于典型破壞性樣品檢測，測量手段手段繁瑣，速度慢，電解液耗損大，目前一般很少應用。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層，再用發(fā)射光譜測定，這種方法可實現(xiàn)剖面或逐層分析，但測量重復性并不理想。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測厚儀操作注意事項：

測厚儀操作時候需要注意的：

技術(shù)指標：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時可分析多達5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達0.01μm

4 多次測量重復性高可達0.01μm

5測量時間：5s-300s

6 計數(shù)率：0-8000cps

測厚儀操作流程

打開儀器開關(guān)----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯(lián)機------預熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應的程式-----測試樣品----出報告