高低溫試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB/T10592高低溫試驗箱技術條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗.高低溫試驗箱采用可程式控制，易于操作，觀察;高低溫試驗箱的制冷機采用全封閉式的壓縮機，冷凍系統(tǒng)采用用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設計;高低溫試驗箱的風路循環(huán)出風回風設計，可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。

怎樣評估恒溫恒濕箱的優(yōu)劣?

環(huán)境條件參數(shù)的可測控性

　任何一臺環(huán)境試驗設備所提供的環(huán)境條件必須是可觀測的和可控制的，紫外光老化試驗箱這不僅是為了使環(huán)境參數(shù)限制在一定的容差范圍之內，保證試驗條件的再現(xiàn)性和重復性的要求，而且從產(chǎn)品試驗的安全出發(fā)也是必須的，紫外光老化試驗箱以便防止環(huán)境條件失控導致被試產(chǎn)品的損壞，帶來不必要的損失。目前各種試驗規(guī)范中大體要求參數(shù)測試的精度不應低于試驗條件允許的誤差的三分之一。