蔡司三坐標(biāo)測量機

ZEISS MMZG適用于大型工件的橋式北京三坐標(biāo)測量機

北京蔡司MMZG產(chǎn)品線的大型橋式測量機滿足*高的要求∶其擁有所有蔡司測量機中*大的測量范圍，以及混高的精度。這使得蔡司MMZG成為檢查復(fù)雜的超大型工件的理想選擇，特別是那些具有嚴(yán)格公差的工件。

ZEISS MMZ G特點

印刷機、風(fēng)力渦輪機和機械工程的制造商使用蔡司MMZG測量機。

大限度地降低后續(xù)成本

堅固耐用的滾柱軸承保證了堅固耐用性

橫向不受力驅(qū)動使得磨損部件的費用降到*低

非常穩(wěn)定的機械設(shè)計使其非常堅固

蔡司三坐標(biāo)測量機優(yōu)點

1、基礎(chǔ)設(shè)施成本低

與測量范圍相比,其占地面積小,因此可大限度地減少所需空間

大限度地降低基礎(chǔ)要求,以降低基礎(chǔ)成本

配有測針的關(guān)節(jié)式探頭座可大限度地提高靈活性并降低成本

2、符合人體工程學(xué)的校正工作

全能的測量范圍視圖

步入式測量區(qū)域使得可直接在工件上進(jìn)行有效分析

移動數(shù)據(jù)站適用于在工件上直接編程

接觸式測頭采點

非接觸式光學(xué)測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標(biāo)，不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非常可觀的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。

三坐標(biāo)測頭

光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測針的場合，接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。

沒有好的測頭，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。