薄膜電容廠家教大家如何判斷薄膜電容的好壞

判斷薄膜電容器的方法：

1、首先看外觀，外觀有問題則薄膜電容很可能有問題。

2、用萬用表電阻檔測試薄膜電的兩腳應(yīng)為非常高阻值，如果有電容表，量度電容值是否跟外殼上標(biāo)記相符。

3、常溫測試性能，包括容量、損耗、絕緣電阻、耐壓情況、ESR等等。特別需要電容器哪方面的性能就重點測試哪方面的。

紋波是導(dǎo)致電容自發(fā)熱的原因之一，電容起著電荷庫的作用，當(dāng)電壓增加時，它們被充電；電壓降低時，它們向負載放電；它們實質(zhì)上起著平滑信號的作用。這種現(xiàn)象的產(chǎn)生是因為，當(dāng)金屬膜電容的介質(zhì)出現(xiàn)缺陷或電穿的情況下，擊穿點或缺陷位置的金屬化鍍層會在電弧作用下，相應(yīng)位置的金屬化鍍層瞬間揮發(fā)，使的電容器的兩極再次形成短路，恢復(fù)正常的工作。當(dāng)電容受到紋波電壓非直流電壓時，電容將經(jīng)歷變化的電壓，并根據(jù)施加的電源，還可能有變化的電流，以及連續(xù)和間歇性的脈動功率。無論輸入形式為何，電容電場經(jīng)歷的變化將導(dǎo)致介電材料中偶極子的振蕩，從而產(chǎn)生熱量。這一被稱為自發(fā)熱的反應(yīng)行為，是介電性能成為重要指標(biāo)的主要原因之一，因為任何寄生電阻(ESR)或電感(ESL)都將增加能耗。金屬膜電容電介質(zhì)很薄，就電容的總質(zhì)量來說，它可能僅占一小部分，所以在評估波紋時，也需考慮其結(jié)構(gòu)中所用的其它材料。

安規(guī)電容常見的現(xiàn)象

有個典型的失效機理是低壓失效。從安規(guī)的角度來講，都喜愛把余量留得大一點，這樣即便規(guī)劃上有點缺陷，也不會器材毛病，竊以為！恰恰相反，殊不知，物極必反，哲學(xué)規(guī)則在此得到充分體現(xiàn)。

     低壓失效的典型癥狀：1實踐使用電壓遠低于電容的額外耐壓值，一般在額外值的10%以下；2濕熱試驗或濕潤預(yù)處理后電容會失效；3從濕熱試驗和濕潤預(yù)處理后，進行高熱試驗或電路板烘烤，電容會康復(fù)正常；4或許將失效電容從電路板上拆下，兩頭加較高點壓，額外值的60%-75%左右，電容的性能會康復(fù)正常。金屬化結(jié)構(gòu)是預(yù)先用真空蒸發(fā)的方法在薄膜上蒸發(fā)了一層極薄的金屬膜，然后用這個薄膜卷繞成的電容器，導(dǎo)電電極為蒸發(fā)的金屬膜(大多仍為鋁膜)。