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I老化原因?C
為什么老化跟時間有關(guān)?
為什么電路速度會隨時間原來越慢呢?因為斷鍵是隨機發(fā)生,需要時間積累。設(shè)計者必須不斷采用更的算法來處理數(shù)字信號,或者利用新工藝提高集成度降低成本。另外,前面提到的斷裂的Si-H鍵是可以自己恢復(fù)的,所以基于斷鍵的老化效應(yīng)都有恢復(fù)模式。對于NBTI效應(yīng)來說,加反向電壓就會進(jìn)恢復(fù)模式;對于HCI效應(yīng)來說,停止使用就進(jìn)入恢復(fù)模式。但是這兩種方式都不可能長時間發(fā)生,所以總的來說,芯片是會逐漸老化的。
為什么老化跟溫度有關(guān)?
為什么電路速度跟溫度也有影響呢?溫度表示宏觀物體微觀粒子的平均動能。溫度越高,電子運動越劇烈,Si?HSi?H鍵斷鍵幾率就大。
為什么加壓會加速老化?
為什么加壓有影響呢?同樣的晶體管,供電電壓越高偏移電壓越高,偏移電壓越高氫原子游離越快,等于壓制了自發(fā)的恢復(fù)效應(yīng),自然老化就快了。
深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè),專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。
4GHzCMOS全數(shù)字鎖相環(huán)
隨著深亞微米CMOS工藝的發(fā)展,工藝尺寸的縮小使模擬電路的設(shè)計變得更加復(fù)雜,盡可能采用數(shù)字電路代替模擬電路成為發(fā)展的趨勢。接下來,從微觀角度來學(xué)習(xí)半導(dǎo)體器件物理,了解二極管的工作原理。鎖相環(huán)作為時鐘產(chǎn)生電路是射頻通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵模塊,其中全數(shù)字鎖相環(huán)具有良好的集成性、可移植性和可編程性,以及能夠?qū)崿F(xiàn)較好的相位噪聲指標(biāo)等優(yōu)勢,得到了越來越廣泛的研究和發(fā)展。本文著重于2.4GHz CMOS全數(shù)字鎖相環(huán)的研究與設(shè)計,主要工作包括:
1)首先分析并推導(dǎo)了全數(shù)字鎖相環(huán)的主要性能指標(biāo),接著分析了I型和II型全數(shù)字鎖相環(huán)的原理和結(jié)構(gòu)特點,并分析了環(huán)路參數(shù)對整個環(huán)路特性與穩(wěn)定性的影響。
2)提出一種用于時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Time-to-Digital Converter,TDC)的互補比較器的結(jié)構(gòu),在傳統(tǒng)比較器結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,疊加一個與之互補的比較器,能夠消除輸出波形的毛刺,降低輸入失調(diào)電壓,提高比較器的工作速度,進(jìn)而改善比較器的精度。舉個栗子:(101)?=1×22 0×21 1×2?=(5)??,這個二進(jìn)制數(shù)第2位是1,它的權(quán)重是22,相乘為1×22。
3)提出一種可重構(gòu)數(shù)字濾波器(Digital Loop Filter,DLF),將DLF的參數(shù)KP、KI做成芯片外的控制端口,通過片外手動調(diào)節(jié)來改變芯片內(nèi)部的參數(shù),可以改變?nèi)珨?shù)字鎖相環(huán)的帶寬,開環(huán)和閉環(huán)響應(yīng),以及幅度響應(yīng)等,終能夠方便地在片外調(diào)節(jié),使環(huán)路達(dá)到鎖定狀態(tài)。PowerCompiler嵌入DesignCompiler/PhysicalCompiler之上,是業(yè)界可以同時優(yōu)化時序、功耗和面積的綜合工具。
4)分析和設(shè)計了一款數(shù)控振蕩器(Digitally Controlled Oscillator,DCO),采用CMOS交叉耦合LC振蕩器,包括粗調(diào)、中調(diào)和精調(diào)三個電容陣列和ΔΣ調(diào)制器。作為改善方式,就是導(dǎo)入FinFET(Tri-Gate)這個概念,如右上圖。其中,粗調(diào)單元采用MIM電容,中調(diào)和精調(diào)單元采用兩對反向連接的PMOS對管構(gòu)成MOS電容,本文DCO的增益為300kHz左右,使用ΔΣ調(diào)制器后,DCO的分辨率可以達(dá)到5kHz左右。
數(shù)字IC測試系統(tǒng)的發(fā)展
隨著數(shù)字集成電路性能的不斷提高,數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)也相應(yīng)得到了迅速發(fā)展。簡單總結(jié)一下二者的區(qū)別:數(shù)字電路IC就是處理數(shù)字信號的器件,比如CPU、邏輯電路等。主要表現(xiàn)在以下幾方面: 測試通道數(shù)增加數(shù)字電路集成度的不斷提高和專用集成電路的出現(xiàn),器件的引腳數(shù)不斷增加,使得數(shù)字測試系統(tǒng)的測試通道數(shù)相應(yīng)不斷增加。由測試中、小規(guī)模集成電路的24通道測試系統(tǒng),測試大規(guī)模集成電路的48通道、64通道測試系統(tǒng)發(fā)展到測試超大規(guī)模集成電路的128通道、256通道甚至更多通道數(shù)的測試系統(tǒng)。
深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè),專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。LVS主要是將版圖和電路網(wǎng)表進(jìn)行比較,來保證流片出來的版圖電路和實際需要的電路一致。與國內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準(zhǔn)等均穩(wěn)定合作,保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。自公司成立以來,飛速發(fā)展,產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業(yè)。