儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式（庫(kù)倫法）

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下：

1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測(cè)厚儀

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

X射線測(cè)厚儀的安全問(wèn)題：

其實(shí)從科學(xué)的角度分析，20Kv的X射線能量本身就很低，不知道你見(jiàn)過(guò)牙片機(jī)嗎？⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。那個(gè)還60KV以上呢，從你給的這個(gè)數(shù)值來(lái)看應(yīng)該是測(cè)量紙或者鋁箔之類的低密度、很薄的物品的，這樣看來(lái)，即便這中能量的X射線一直不停的對(duì)直你本人進(jìn)行照射都不會(huì)有問(wèn)題，何況還是折射和衍射，折射和衍射后的能量與原來(lái)的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源產(chǎn)生的射線，經(jīng)過(guò)6次折射可以達(dá)到環(huán)境水平，可見(jiàn)能量損耗之強(qiáng)，衍射就更不用說(shuō)了 ，這種能量的X射線根本就不會(huì)有衍射產(chǎn)生的，不用擔(dān)心，所以，切莫恐慌。

一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

性能優(yōu)勢(shì)：

 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

 無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

 微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

 精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

 EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

X射線測(cè)厚儀應(yīng)用在哪些方面

適用范圍：生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中， x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

    為了讓我們生產(chǎn)的產(chǎn)品更符合客戶的要求，那么找到適用于我們產(chǎn)品的測(cè)厚儀就非常重要了，因此如果不了解應(yīng)該使用哪種測(cè)厚儀，較好的方法就是咨詢客服，在專業(yè)的角度上給你一個(gè)建議，也可以了解下產(chǎn)品信息。