本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統(tǒng)。

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。

1）不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

     2）石英材質液體比色皿，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     3）具有專用的液體容器定位裝置，可實現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。