怎么樣才能買到適合自己的手持式光譜儀

一、穩(wěn)定性,解析儀器要緊的便是穩(wěn)定性,ICP在每次解析前都要進(jìn)標(biāo)樣,因此勘測(cè)真相通常以及真值過失都不打,環(huán)節(jié)是同類樣品可否在每次解析出來以后真相可否一概,假如忽高忽低你曉得哪個(gè)樣品是及格的.     

二、解析速率,假如是全譜的機(jī)械,通常72個(gè)元素/分鐘,假如是掃描型的,速率要慢.當(dāng)前除外一些特別行業(yè)還在用掃描型的,其它的都是全譜了.不是說掃描型欠好,只是技巧對(duì)比破舊,簡(jiǎn)單被淘汰.

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手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源分析

手持式光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高，但測(cè)定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有：

(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。

(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。

(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。

(5)要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。

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光譜儀處理的不確定度

光譜儀數(shù)據(jù)處理過程中

在這里，數(shù)據(jù)處理過程是指從測(cè)量的譜線強(qiáng)度計(jì)算樣品中元素濃度的過程，包括根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品建立校正和根據(jù)校正計(jì)算未知樣的濃度。在采用線性回歸方法校正的過程中，校正模型的選用、基體校正方法、譜線重疊的校正方法、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性至分析濃度的范圍等都對(duì)分析結(jié)果的準(zhǔn)確度產(chǎn)生影響。具體可以參考《光譜儀的主要參數(shù)及性能評(píng)價(jià)指標(biāo)詳解》第二步、通過儀器廠家的客戶群了解對(duì)方的口碑。要對(duì)這些因素進(jìn)行逐一分析是比較困難的，但對(duì)于一些比較簡(jiǎn)單的體系，還是能作比較的計(jì)算。Rashmi等就對(duì)用散射法測(cè)定輕基體中Fe時(shí)的不度進(jìn)行了較的分析。

光譜儀標(biāo)準(zhǔn)

前面對(duì)X射線熒譜儀分析中的度來源進(jìn)行了介紹，下面介紹幾個(gè)主要過程的標(biāo)準(zhǔn)度估計(jì)方法。測(cè)量結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)度實(shí)際上是由多個(gè)度分量合成的。藏入手,如檢修儀器的電路板因此，當(dāng)光潛儀出現(xiàn)問題時(shí)，我們可以便儀器的榆水平大幅提高功能更智能，許多故地都可以通過電腦自自帶的診斷程序進(jìn)行全方面檢測(cè)。X射線熒譜分析中度的來源分別從以下幾個(gè)方面考慮，即取樣(ul)、樣品制備(u2)、強(qiáng)度測(cè)量(u3)和回歸分析(u4，包括校正模型、校正系數(shù)的選擇和標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)準(zhǔn)值的準(zhǔn)確性)。在實(shí)際分析中，其中的一個(gè)或幾個(gè)可能是對(duì)分析結(jié)果的合成標(biāo)準(zhǔn)度起決定作用的分量，那么就應(yīng)采取措施盡量減小其度。此處的標(biāo)準(zhǔn)度均采用相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)度，以免量綱。如不說明，標(biāo)準(zhǔn)度均指相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)度，實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差也指相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。

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