泰安測厚儀廠家滿意的選擇“本信息長期有效”

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發(fā)布時間：2020-08-18 06:20

一六儀器專業(yè)測厚儀多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎上配備了可變焦裝置，搭配先進的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復雜形狀樣品，同時也抬高了價格

薄膜是指在基板的垂直方向上所堆積的1～104的原子層或分子層。在此方向上，薄膜具有微觀結構。

理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離。由于薄膜僅在厚度方向是微觀的，其他的兩維方向具有宏觀大小。所以，表示薄膜的形狀，一定要用宏觀方法，即采用長、寬、厚的方法。因此，膜厚既是一個宏觀概念，又是微觀上的實體線度。

由于實際上存在的表面是不平整和連續(xù)的，而且薄膜內(nèi)部還可能存在著、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等，所以，要嚴格地定義和測量薄膜的厚度實際上是比較困難的。膜厚的定義應根據(jù)測量的方法和目的來決定。

經(jīng)典模型認為物質(zhì)的表面并不是一個抽象的幾何概念，而是由剛性球的原子（分子）緊密排列而成，是實際存在的一個物理概念。

形狀膜厚：dT是接近于直觀形式的膜厚，通常以um為單位。dT只與表面原子（分子）有關，并且包含著薄膜內(nèi)部結構的影響；

質(zhì)量膜厚：dM反映了薄膜中包含物質(zhì)的多少，通常以μg/cm2為單位，它消除了薄膜內(nèi)部結構的影響（如缺陷、、變形等）；

物性膜厚：dP在實際使用上較有用，而且比較容易測量，它與薄膜內(nèi)部結構和外部結構無直接關系，主要取決于薄膜的性質(zhì)（如電阻率、透射率等）。

一六熒光測厚儀十年以上研發(fā)團隊集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0.005um

選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測厚儀理由：

根據(jù)IPC規(guī)程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數(shù)客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產(chǎn)生較大影響，Elite（一六儀器）測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測量的準確性。工業(yè)時代的科技是現(xiàn)代科技，科技是國之利器，國家要強大、人民生活要不斷改善，必須依托于強大科技。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現(xiàn)高計數(shù)率，可以進行測量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM專用軟件，具有強大且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。采用基本參數(shù)法（FP），有內(nèi)置頻譜庫，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。

4、 Elite（一六儀器）針對PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點：1）工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。打開測試腔放入標準元素片Ag，通過調(diào)整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰7。