低本底的探測(cè)原理

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探測(cè)原理：探測(cè)器頂端的閃爍體是由α閃爍物質(zhì)和β閃爍物質(zhì)壓制在的有機(jī)玻璃板上。由于α粒子和β射線進(jìn)入閃爍物質(zhì)時(shí)后，將全部能量損失在閃爍物質(zhì)上，引起閃爍發(fā)光，閃爍光子被光電倍增管接收并轉(zhuǎn)換產(chǎn)生電信號(hào)。電信號(hào)進(jìn)入電子線路，轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)，被記錄。該電路的穩(wěn)定性、可靠性直接影響著測(cè)量?jī)x的測(cè)量精度和長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性，本文采用高性能放大器和比較器設(shè)計(jì)放大比較矩陣，基于可編程邏輯器件CPLD和STM32單片機(jī)，設(shè)計(jì)了一種四路低本底αβ測(cè)量?jī)x的電路，實(shí)現(xiàn)了高精度可靠測(cè)量。每一個(gè)α粒子撞擊閃爍體后產(chǎn)生的光信號(hào)進(jìn)入電子線路整合后在顯示器上被記錄成一個(gè)計(jì)數(shù)。所以低本底αβ測(cè)量?jī)x也被通俗叫做低本底αβ計(jì)數(shù)器。計(jì)數(shù)率與樣品中核素活度（發(fā)射的αβ粒子數(shù)量）成正比。

低本底測(cè)量

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低本底是指再被測(cè)放射性樣品中，除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測(cè)器中產(chǎn)生的信號(hào)。低本底測(cè)量是指在低本底條件下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測(cè)器。

低本底探測(cè)器往往選用放射性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過(guò)純化的材料制作探測(cè)器及整個(gè)裝置。除α探測(cè)器外，低本底探測(cè)器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。5、在能區(qū)50keV-3000keV內(nèi)本底計(jì)數(shù)率不大于6s-1（cps）。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對(duì)探測(cè)器和測(cè)量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場(chǎng)的干擾等因素引進(jìn)的本底計(jì)數(shù)。