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帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡SEM
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)放大倍數(shù)(不同型號有差異)約2~200000,連續(xù)可調(diào),分辨率可達(dá)幾納米。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 SEM 主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)【當(dāng)一束極細(xì)的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)】,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。 二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。
掃描隧道顯微鏡在工作時,就如同一根唱針掃過一張唱片,一根探針
掃描隧道顯微鏡在工作時,就如同一根唱針掃過一張唱片,一根探針慢慢地接近要被分析的材料(針尖極為尖銳,僅僅由一個原子組成)。一個小小的電荷被放置在探針上,一股電流從探針流出,通過整個材料,到底層表面。當(dāng)探針通過單個的原子,流過探針的電流量便有所不同,這些變化被記錄下來。通過繪出電流量的波動,人們可以得到組成一個網(wǎng)格結(jié)構(gòu)的原子的美麗圖片。
偏光鏡檢術(shù)的要求是什么
偏光鏡檢術(shù)的要求 1、載物臺的中心與光軸同軸。 2、起偏鏡和檢偏鏡應(yīng)處于正交位置。 3、制片不宜過薄。 顯微鏡的分類和特點 體視顯微鏡 體視顯微鏡又稱"實體顯微鏡"或"解剖鏡"。由一個共用的初級物鏡,對物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡變焦分開,并成一體視角再經(jīng)各自的目鏡成像,它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得。是一種具有正像立體感地目視儀器,被廣泛地應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、農(nóng)林、工業(yè)及海洋生物各部門。