手持式光譜儀介紹

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。

造成手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的因素有哪些？

手持式光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

1、標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。

2、澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。

3、標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

4、未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。

5、要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要采用化學分析方法分析多次校對結果。

手持式光譜儀的性能特點

在工業(yè)制造過程中，常常需要在質量控制過程中對來料進行檢查，以及對合金、金屬材料進行分揀，手持式X射線熒光（XRF）分析儀是完成廢料回收、基本PMI（材料成分辨別）、金屬制造和金屬識別等應用的理想工具。

2020年5月26日，奧林巴斯發(fā)布了VANTA Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀。除具備了VANTA系列分析儀檢測迅速、結果可靠、堅固耐用、連通性好等特性外，其操作便捷性更是堪比智能手機，可選配的無線連通性能讓用戶在使用過程中感受到了智能制造的強大威力。