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如何選擇真空檢漏儀
一.對(duì)檢漏方法的一般要求
1.檢漏靈敏度高,可以檢出很小的漏孔;
2.反應(yīng)時(shí)間短,可以提高工作效率;
3.能定位、定量,即不經(jīng)能夠找出漏孔的位置,還能知道漏率的大小,以便確定是否合乎質(zhì)量要求;
4.能無損檢漏,不使被檢設(shè)備受到損傷和污染;
5.穩(wěn)定性好,即可以在足夠長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)靈敏度穩(wěn)定可靠;
6.所用“示蹤氣體”在空氣中含量低,無毒,不腐蝕零件;
7.檢漏范圍大,從大漏孔到小漏孔都能檢測(cè)到,以減少檢漏設(shè)備的數(shù)量和費(fèi)用;
8.檢漏時(shí)潔凈無油,滿足一些特殊的要求
二.選擇真空檢漏儀檢漏方法的原則
1.主要根據(jù)被檢漏設(shè)備的允許漏率為依據(jù),由于一個(gè)設(shè)備的允許漏率是很多漏孔漏率的綜合,為找到一個(gè)單個(gè)漏孔,所選擇的檢漏方法的檢漏靈敏度就要高于允許漏率1-2個(gè)數(shù)量級(jí)。如一個(gè)設(shè)備的允許漏率為10-11w,而必須選用的檢漏儀靈敏度為10-12∽10-13W;
2.根據(jù)具體被檢對(duì)象,所用方法簡(jiǎn)便易行,經(jīng)濟(jì)實(shí)用。
氦質(zhì)譜檢漏儀
待機(jī)時(shí)電離室真空度保持在≤3x10-2Pa,燈絲不易被氧化脆斷。在檢漏過程中,當(dāng)出現(xiàn)意外情況,系統(tǒng)突然暴露大氣或真空度突然降低,導(dǎo)致大量的氣體突然進(jìn)入電離室,真空度≥1x10-1Pa時(shí),燈絲電流急劇增大,燈絲被碳化,就發(fā)生了脆斷現(xiàn)象。
氦質(zhì)譜檢漏儀燈絲壽命如何延長(zhǎng)?有前面分析已知,造成氦質(zhì)譜檢漏儀燈絲脆斷的原因:1.真空度低;2.燈絲電流過大;3.對(duì)燈絲有害的氣體氣壓太高(氧化性氣體、水蒸氣、氫氣)。那么,在使用中盡量避免燈絲在上述惡劣環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間開啟,或者說盡量提高燈絲的上述使用條件就可以有效延長(zhǎng)氦質(zhì)譜檢漏儀的燈絲壽命。如:1.使用中盡量將預(yù)置真空開關(guān)空擋;2.避免電離室泄入有害氣體(氧化性氣體、水蒸氣、氫氣)。
氦質(zhì)譜檢漏儀的不同測(cè)量方法滿足多種需求
氦質(zhì)譜檢漏儀中氦質(zhì)譜檢漏系統(tǒng)的關(guān)鍵部件均為進(jìn)口,性能穩(wěn)定可靠。秀長(zhǎng)的體積,優(yōu)越的性能,適用于眾多行業(yè)。運(yùn)用了氦質(zhì)譜和逆擴(kuò)散原理,采用了原裝進(jìn)口分子泵、180°非均勻磁場(chǎng)和全自動(dòng)控制技術(shù),實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)氦峰掃描、自動(dòng)調(diào)零、自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)量程切換,具有檢測(cè)速度快、檢測(cè)靈敏度高、抗干擾能力強(qiáng)等特點(diǎn)。氦質(zhì)譜檢漏儀可以對(duì)具有內(nèi)腔的微電子或半導(dǎo)體器件封裝的氣密性進(jìn)行細(xì)檢漏。 此檢測(cè)方法使用的示蹤氣體選擇了氦氣,氦氣具有質(zhì)量數(shù)小、重量輕并且有滲透能力強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),達(dá)到了細(xì)檢漏的目的。
氦質(zhì)譜檢漏儀特點(diǎn):
1.檢測(cè)時(shí)間和響應(yīng)周期非常短,可以達(dá)到2s以內(nèi);
2.檢測(cè)的介質(zhì)比較常用,僅需壓縮空氣即可;
3.多種大漏保護(hù)模式,充分保護(hù)離子源不被氧化和暴漏大氣時(shí)分子泵不被沖擊;
4.大漏檢測(cè)功能:可通過預(yù)設(shè)壓力,抽空時(shí),達(dá)不到預(yù)設(shè)值,檢漏儀自動(dòng)報(bào)警提示。
5.多種計(jì)量單位選擇,檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)更新,直接輸出生成Excel表格。
真空法氦質(zhì)譜檢漏原理
真空法氦質(zhì)譜檢漏原理:
采用真空法檢漏時(shí),需要利用輔助真空泵或檢漏儀對(duì)被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室抽真空,采用氦罩或噴吹的方法在被檢產(chǎn)品外表面施氦氣,當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時(shí),氦氣就會(huì)通過漏孔進(jìn)入被檢產(chǎn)品內(nèi)部,再進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀,從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品泄漏量測(cè)量。按照施漏氣體方法的不同,又可以將真空法分為真空噴吹法和真空氦罩法。其中真空噴吹法采用噴槍的方式向被檢產(chǎn)品外表面噴吹氦氣,可以實(shí)現(xiàn)漏孔的定位; 真空氦罩法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來,在罩內(nèi)充滿一定濃度的氦氣,可以實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測(cè)量。
真空法檢漏有何優(yōu)點(diǎn):真空法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)靈敏度高,可以定位漏孔,能實(shí)現(xiàn)大容器或復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢漏。
真空法檢漏缺點(diǎn):真空法的缺點(diǎn)是只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)大氣壓差的漏率檢測(cè),不能真實(shí)反映帶壓被檢產(chǎn)品的真實(shí)泄漏狀態(tài)。
用途:真空法的檢測(cè)主要應(yīng)用于真空密封性能要求,但不帶壓工作的產(chǎn)品,如空間活動(dòng)部件、液氫槽車、環(huán)境模擬設(shè)備等。