詳細(xì)分享校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀

　校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準(zhǔn)確性，特質(zhì)定本自校規(guī)程?！　”疽?guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術(shù)要求，校準(zhǔn)設(shè)備，校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)結(jié)果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準(zhǔn)。

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在線氣體分析儀在工業(yè)流程中的應(yīng)用

氣體成分分析的特點(diǎn)及要解決的問題，在工業(yè)中重要也是用得多的是氣體成分的分析測(cè)量。根據(jù)氣體成分分析儀工作原理的不同，大致可分為兩種測(cè)量方式：一是直接測(cè)量方式，即將探頭安裝在過程氣體管道中直接測(cè)量(測(cè)量、變送裝置在探頭內(nèi))，如紅外線、紫外線和激光氣體分析器等；一是間接(取樣)測(cè)量方式，即將過程氣體抽出進(jìn)行除塵等處理后送至分析進(jìn)行測(cè)量(測(cè)量、變送裝置在內(nèi))。對(duì)于采用間接分析測(cè)量的來說，由于受工業(yè)過程氣體高溫、高粉塵、高水份、負(fù)壓及腐蝕性等惡劣氣體條件影響，面對(duì)的大困難就是怎樣獲得適合測(cè)試條件的樣氣。惟一的方法就是采用預(yù)處理裝置對(duì)樣氣進(jìn)行處理。由于一些進(jìn)口的分析儀本身技術(shù)的發(fā)展已比較成熟，可以滿足工業(yè)分析的需要。因此，選用(制作)能適應(yīng)工藝條件的、性能穩(wěn)定可靠的預(yù)處理裝置是解決分析使用問題的關(guān)鍵。對(duì)于采用直接分析測(cè)量的來說，由于它采用了新光學(xué)技術(shù)，能在不影響被測(cè)氣體本身狀態(tài)的情況下進(jìn)行測(cè)量，具有測(cè)量準(zhǔn)確、反應(yīng)迅速的優(yōu)點(diǎn)。尤其是它不需預(yù)處理裝置，省去了在自動(dòng)吹掃裝置上的投資，與傳統(tǒng)的熱導(dǎo)式氣體分析儀相比有很大的優(yōu)勢(shì)。

紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射度;K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

紅外線氣體分析儀工作原理：

紅外線氣體分析儀屬于不分光式紅外線氣體分析器，其工作原理是基于某些氣體對(duì)紅外線的選擇性吸收。儀器采用單光源、單管隔半氣室及先進(jìn)的檢測(cè)器，工藝精湛、分析精度高、穩(wěn)定性好。采用先進(jìn)的數(shù)字處理技術(shù)，全新的液晶顯示畫面。

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