大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產(chǎn)品特點多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進(jìn)行強(qiáng)度測定。功能豐富的專用軟體，可進(jìn)行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。適用于低輝度(0.3cd/m2)，如螢光、電漿發(fā)光等微弱光以及光源、顯示器量測。16msec的高速光譜解析。靈活堅固的光纖搭配多元的選配附件，可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時性量測。

使用紫外光譜儀時需要注意什么

防止使用時振動

紫外光譜儀內(nèi)部安裝有許多光學(xué)鏡片，且獨特的光路設(shè)計已經(jīng)將鏡片固定在唯i一相應(yīng)位置，不能出現(xiàn)位置移動。如果使用時振動，會將里面的鏡片位置發(fā)生移動，從而影響光路，因此一定不要振動光譜儀。

近紅外光譜技術(shù)（NIR）是 90 年代以來發(fā)展快、引人注目的分析技術(shù)之一。

近紅外光譜技術(shù)（NIR）是 90 年代以來發(fā)展快、引人注目的分析技術(shù)之一。自動分析儀描繪的曲線其縱坐標(biāo)為投射比T或吸光度A，此曲線高度隨溶液濃度而變，適用于定量分析。隨著 NIR 分析方法的深入應(yīng)用和發(fā)展，已逐漸得到大眾的普遍接受和官1方的認(rèn)可。 1978年美國和加大就采用近紅外法作為分析小麥蛋白質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)方法， 1998 年美國材料試驗學(xué)會制訂了近紅外光譜測定多元醇（聚亞安酯原材料）中羥值含量的ASTM D6342 標(biāo)準(zhǔn)方法。2003年，在我國也正式實施了近紅外光譜方法測定飼料中水分、粗蛋白質(zhì)、粗纖維、粗脂肪、賴氨酸、蛋氨酸的國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 188682002

紫外吸收光譜和可見吸收光譜都屬于分子光譜[1]  ，它們都是由于價電子[2]  的躍遷而產(chǎn)生的。利用物質(zhì)的分子或離子對紫外和可見光的吸收所產(chǎn)生的紫外可見光譜及吸收程度可以對物質(zhì)的組成、含量和結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析、測定、推斷。